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光学测量>显微 *s^5BLI9 2B4c:jJ 任务/系统描述 K +~ J: LSGj;R
JG[+e*8 O v-I2 亮点 PT;$@q8 ^.(]i\V_
=N=,;<6%A /Yh8r1^2tZ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ^tah4QmUA 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 3
*G=U 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Lg^m?~{ \;3r 说明:光源 _VlNZ/V =8iM,Vl3 rLwc=(| ?o4&cCFOE 说明:透镜系统 `9ieTt 8X%;29tow ?d%_o@ R9W(MLe58 说明:样品结构 eYa gI *f(}@U .JiQq] /EC m 说明:探测器 "%Jx,L\f{ t~AesHZpk 1)r1/0 IOA{lN6 结果:3D光线追迹 Qu\E/T` y?rsfIth`
NlKnMgt~ TC2aD&cw{ 结果:场追迹矩形光栅 ecHy. 7H .Ybm27Dk u&qdrKx .,c8cq? 结果:场追迹锯齿形光栅 ?*T`a oB MT9a 1 >
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