切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 725阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6794
    光币
    28119
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量>显微 4ior  
    '#c#.O  
    任务/系统描述 $6n J+  
    i`+w.zJOH8  
    fnX[R2KZ  
    @K <Onh`  
    亮点 L!:NL#M  
    SA'g`  
    1KUjb@"  
    L]MWdD  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 GFT@Pqq  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 a6gw6jQ  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 I3>8B  
    *Hx*s_F  
    说明:光源 ?pIELezfK  
    _o9axBJs  
    +=/j+S`  
    dCo)en  
    说明:透镜系统 7@"X?uo%o  
    n1; a~0P  
    uzxwJs'fz  
    9&r]k8K  
    说明:样品结构 v9 \n=Z  
    i1x4$}  
    z*T41;b  
    m%.4OXX"&  
    说明:探测器 K1X-<5]{  
    =+_nVO*  
    /}1|'?P  
    -o~zb-E  
    结果:3D光线追迹 c!HGiqp  
    2D%2k  
    V(Pw|u" e  
    !%$[p'  
    结果:场追迹矩形光栅 Y*@7/2,  
    T"P}`mT  
    9X*Z\-  
    Aq(cgTNW  
    结果:场追迹锯齿形光栅 r ??_2>Q  
    (LsVd2AbR  
     
    分享到