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光学测量>显微 r^$WX@ t& WJ
m:?, 任务/系统描述 XdGA8%^cY Wz-7oP%;I
D$PR<>=y )ZQML0}P; 亮点 q? 2kD"%$ Kk<MS$Ov
5Q.z#]Lg dT4e[4l 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 _)F0oC { 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 &~a/Upz0]_ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 HA::(cXL nN[gAM ( 说明:光源 ;OY*`(Id )kuw&SH, 7(1UXtT "
H;iAv 说明:透镜系统 `Wy8g?d;bn kr6^6I. 0F|DD8tHR 'k9dN
\ev 说明:样品结构 n;,>Fv {5N!udLDr5 Ri&?uCCM ^VAvQ(b!:i 说明:探测器 -|&5aH] s5SKQ#,@P L#X!. ';OZP2 结果:3D光线追迹 +7|Q d}\X GO=3<Q{;
{'R\C5:D7 _;yi/)-2 结果:场追迹矩形光栅 gBCO>nJws +ZxG<1& <4QOjW .P>-Fh,_p 结果:场追迹锯齿形光栅 f0,,<ib.w c<J/I_!
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