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光学测量＞显微 Xtk3~@ 8wH1x
. 任务/系统描述 8T523VI KA/ ~q"N
 y8 . 3tp 9EFQo^
E 亮点 ]broU%#"
^1w<wB\B
 52P^0<Wq Tebu?bj 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 |s! <vvp] 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 G=( ja?d 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 q.:j
yj6 nvInq2T 1 说明：光源 ]K-B#D{P Xs Ey8V  U-.A+#<IT9 D b&=
N 说明：透镜系统 E0t%]?1 ` p#u9M>  q,>- 4Cm
!QsmT3 说明：样品结构 HO}eu O5v~wLx9e  ?m bI6fYv p)c"xaTP#F 说明：探测器 n2N:rP 'GF <_3I2l  lz:+y/+1 FIN0~
8 结果：3D光线追迹 tSX,*cz R+<M"LriR&
 ~Q2,~9Dkc wDt9Lf
O 结果：场追迹矩形光栅 Hdda/?{b WNp-V02l  _edT+ r>+
W 61nJ7@ 结果：场追迹锯齿形光栅 y{9<>28  + 
