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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-03-16
    光学测量＞显微 }K8Lm-.=  
    KSOO?X0j  
    任务/系统描述 )Xno|$b5Eo  
    ##~!M(c  
     agY5Dg7  
    4;\Y?M}g?  
    亮点 WFh@%j  
    UvD-C?u'  
     G ]lvHD  
    wW()Zy0)  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 h*'d;_(,  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 uu3M{*}  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 F"BL #g66  
    STlPT5e.}  
    说明：光源 {bTeAfbf]  
    WD;)VsP  
    *aG"+c6|  
    ~u2w`H?V  
    说明：透镜系统 L1MrrC  
    )OUU]MUH  
    t&pGQ  
     U?EG6t  
    说明：样品结构 WY.5K =}  
    7sguGwg)_  
    w -dI<s  
    /hfUPO5  
    说明：探测器 _FFv#R*4  
    pE(sV{PD  
    j]4,6` b\  
    Bt6xV<jD  
    结果：3D光线追迹 EOQaY  
    ~*kK4]lP  
     dgY5ccP  
    Fva]*5  
    结果：场追迹矩形光栅 _Ff".t<"  
    [k ~C+FI  
    zi_[ V@Es/  
     >.@MR<H#5  
    结果：场追迹锯齿形光栅 (-'PD_|  
    [U']kt  
     
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