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    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 ~uP r]#  
    :;" aUHU'  
    任务/系统说明 Dq0-Kf,^  
    a7XXhsZ  
    n25irCD`  
    ws*~$x?7  
    亮点 *#9VC)Q  
    3bT6W, J4T  
    }:,o Y<  
    v_?s1+w  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) 2LhfXBWf  
     严格分析光栅衍射效率 R@)'Bs  
     考虑入射光的方向分布 Z;|0"K  
    mB{&7Rb0  
    说明:光源 *F26}q  
    ` <l/GwtAJ  
    UFzM#  
    h,!G7V  
    说明:光束分束器 W+F<P@[u<$  
    2b 6? 9FX*  
    ,7n;|1`  
    C8bGae(  
    说明:检测透镜系统 F20wf1^  
     kg/+vJ  
    (>!]A6^L~  
    RTgQ#<W8  
    说明:微型晶片 !s#'pTZk4  
    dy2_@/T7  
    O<eWq]  
    FqT,4SIR  
    说明:检测物镜 . Ce&9l  
    J1gEjd   
    F_p3:l  
    1_33;gP  
    说明:探测器 Q`@$j,v  
    ;Sx'O  
    Xh7~MU~X  
    7\\~xSXh  
    结果:3D光线追迹(只有0级) A-Q{*{^#  
    [5Y$L  
    -H ac^4uF  
    ?d>P+).  
    结果:3D光线追迹(所有级) 3$96+A^M*  
    pr[B$X .V  
    tpNtoqg_$  
     BdE`p{  
    结果:光线追迹 azR;*j8Q'  
    DJD]aI  
    m p|20`go  
    He0N  
    结果:场追迹 OW63^wA`s  
    'o)ve(  
    $p}~,Kp/  
    (g iTp@Tp  
    结果:线性偏振光的场追迹  s>*Q  
    9A* ?E  
    3x(MvW30Lg  
     
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