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    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 '$&(+>)z `  
    PT5ni6  
    任务/系统说明 (Su2 \x  
    ^[,1+WS%  
    mZ.6Njb  
    M}RFFg  
    亮点 gB'Ah-@,P  
    X<bj2 w  
    c^/?VmCQ}  
    k>@^M]%  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) b J5z??  
     严格分析光栅衍射效率 I<o4l[--  
     考虑入射光的方向分布 H0Gp mKYW  
    b`%e{99\  
    说明:光源 Q $,kB<M  
    n"VE!`B  
    6P[O8  
    %QcG^R  
    说明:光束分束器 Yka yT0!  
    a!]QD`  
    3lEU$)QA3  
    Z.#glmw^=R  
    说明:检测透镜系统 Yoym5<xE  
    [[Eu?vQ9R  
    6je%LHhL  
    Bd]DhPhJ  
    说明:微型晶片 ~k_zMU-1  
    L,ey3i7a\  
    WYd,tGz  
    JqhVD@1{  
    说明:检测物镜 #~qp8 w  
    WX$^[^=HC  
    r}M4()9L  
    h 7P?n.K  
    说明:探测器 :JG}%  
    ~8 a>D<b  
    Hu!>RSg,,2  
    YQd&rkr  
    结果:3D光线追迹(只有0级) -2~ yc2:>A  
    Xg)FIaw]eT  
    ,> EY9j  
    @(5RAYRV  
    结果:3D光线追迹(所有级) p%qL0   
    !ZcA Ltq  
    2\W<EWJ@  
    t|XC4:/>T  
    结果:光线追迹 1;9E*=  
    5rSth.&  
    B_G7F[/K  
    QU;C*}0Zl  
    结果:场追迹 fmyS# 6"  
    ]$*_2V3VA$  
    `SbX`a0p2  
    *qOCo_=P8  
    结果:线性偏振光的场追迹 LOo#  
    <p8y'KAlc  
    ?Qp_4<(5  
     
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