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    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 \ ux {J  
    BGH'&t_5  
    任务/系统说明 4}0YLwgJ  
    n#?y;Y\  
    >*^SQ{9  
    % bdBg  
    亮点 SuV3$-);z  
    |{%$x^KyJ  
    :To{&T  
    siV]NI ':|  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) Y>2#9LA  
     严格分析光栅衍射效率 AEFd,;GF  
     考虑入射光的方向分布 wYS r.T8Q  
    3F6A.Ny  
    说明:光源 FKf2Q&2I  
    K1;b4Sl?A  
    `6NcE-oJ  
    ]haQ#e}WH  
    说明:光束分束器 w:1UwgcPC  
    u?z,Vs"  
    VS~+W=5}  
    LH@Kn?R6  
    说明:检测透镜系统 ]_L;AD  
    NSzTl-eS  
    F,mStw:  
    >B$ IrM7J  
    说明:微型晶片 NOAz"m+o  
    (2 hI  
    i\4YT r,  
    ][8`}ki 1  
    说明:检测物镜 fCO<-L9k$  
    9A`^ (  
    tC=K;zsXpz  
    cp`ZeLz2^  
    说明:探测器 e+ m(g  
    7D~~<45ct  
    Smh=Q4,W  
    bXM&VW?OP  
    结果:3D光线追迹(只有0级) urL@SeV+$  
    G8Ow;:Ro  
    \2Q#'  
    }4,[oD  
    结果:3D光线追迹(所有级) g\49[U}[~F  
    &< FKcrZ,  
    X7?14W  
     z' 5  
    结果:光线追迹 ,a0RI<D  
    i DsY 5l  
    {"N:2  
    3r?T|>|  
    结果:场追迹 {uqP+Cs  
    %Go/\g   
    XHJ/211  
    R3#| *)q  
    结果:线性偏振光的场追迹  {yxLL-5c  
    4jVd  
    #~r+Z[(,p  
     
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