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成像系统>包括光栅 2 j8^Z xcr=AhqM 任务/系统说明 gE%{#& * oomB/"Z  L {(\k$>' ) \Mwv&k1 亮点 pe=Ou 0
YJ_`[LnL
 XH&F n+ fBS`b[ x 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） /WXy! W30< 严格分析光栅衍射效率 Y\lu z`v 考虑入射光的方向分布 de]r9$ D }c(".v# 说明：光源 z vB! = H S / 1z  CLU !/J $! qG3 [5lti 说明：光束分束器 q/ -8sO}q n~N>c*p  ),%/T,!@ ! U. Xb6 说明：检测透镜系统 fI(u-z~, o.U$\9MNP  6=o@X 8$a4[s
说明：微型晶片 $b y-?z(( D ODo
!  0.S].Y[ |1J=wp)# 说明：检测物镜 T677d.zaT .kh%66 :  e:}8|e~T E15"AO 说明：探测器 JmdXh/X .b>1u3  +F q`I2l| _KiaeVE 结果：3D光线追迹（只有0级） ,!_ q +2yp&zF  'SF+P)Kmz ,\ Gn 结果：3D光线追迹（所有级） )
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^4I 结果：光线追迹 M$ g%kqa f%9EZ+OP
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 _l]`Og@Y YAnt}]u!" 结果：线性偏振光的场追迹 L(Q v78F Q(h,P+  EJY[M
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