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    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 f$F*3  
    v}[dnG  
    任务/系统说明 ZnfNQl[  
    98=la,^$  
    >]?H`>4(  
    `hrQw)5?r  
    亮点 ' ~Q2!F  
    -JV~[-,  
    ~uj;qq  
    o2uj =Gnx  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) RU&_j* U  
     严格分析光栅衍射效率 T ):SGW  
     考虑入射光的方向分布 `ifiL   
    y%cO#P@  
    说明:光源 x0Z5zV9  
     }roG(  
    e@n!x}t8  
    %*W<vu>H  
    说明:光束分束器 <Q5Le dN  
    yL1CZ_  
    ~cqryr9  
    z`U Ukl}T  
    说明:检测透镜系统 Qe$k3!  
    51xk>_Hm}|  
    A3{0q>CC  
    m*e YC  
    说明:微型晶片 n$["z w  
    Y(6Sp'0  
    ]%dnKP~  
    cQUC.TZ_  
    说明:检测物镜 H0*,8i5I  
    ,k0r  
    kB P*K  
    )qU7`0'8  
    说明:探测器 MI#mAg<  
    vqNsZ 8|`  
    -?a<qa?$  
    - u3e5gW  
    结果:3D光线追迹(只有0级) csQfic  
    %[QV,fD'E  
    ;<wS+4,  
    #kmh:P  
    结果:3D光线追迹(所有级) lU2c_4  
    d- E4~)Qy  
    L;6.r3bL  
    ;LwqTlJ*[L  
    结果:光线追迹 Nt-<W+,  
    A( d5G^  
    r':TMhzHq?  
    bGXR7u&K  
    结果:场追迹 v"Jgw;3  
    0GXO&rCG  
    >G"X J<IO  
    qE7R4>5xjO  
    结果:线性偏振光的场追迹 q/&y*)&'O  
    % _M2N.n  
    Q<"[C 1Lj  
     
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