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成像系统>包括光栅 J|q_&MX/ x M[#Ah) 任务/系统说明 =+L>^w#6= srkOa d  ] mh+4k?b l{AT)1;^ 亮点 zV a+5\Q
X[ (J !"+
 c2f$:XiM `7A@\Ha3 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） F& ~vD 严格分析光栅衍射效率 *X-$*
~J0 考虑入射光的方向分布 )1,&YJM*6l I$LO0avvH2 说明：光源 /{va< CL rY= #^S  3Cl9,Z"&6$ 5=986ci$U 说明：光束分束器 u\wd<<I'] OXB-.<  jayoARUB :[39g;V}c 说明：检测透镜系统 g1|c?#fwo {;/o4[jlg  _@;N<$& k
N +( 说明：微型晶片 "!?bC#d#( ZM?r1Z4  K= )R!e8 H/&Q,9sU21 说明：检测物镜 -EaZ<d[|0 mg(56)  0Kk*~gR? ]IV; >94[ 说明：探测器 HWBom8u0 LH;G :  -c@ 5qe> Qg!*=<b 结果：3D光线追迹（只有0级） J.l% H U %5gJ6>@6Z  B_2>Y t" >JOvg*a?" 结果：3D光线追迹（所有级） eHe /w9`$R !e `=UZe1  9A(K_ d-!H UD`Z;F 结果：光线追迹 =[+&({ CF"3<*%x
 ooSd6;' x?'% 结果：场追迹 m!g8@YI *XO KH +_u
 VAE?={- vq7%SE kES 结果：线性偏振光的场追迹 3+5\xRq :q<%wLs  `kSCH; mwP
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