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    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 r&TxRsg{  
    `|PxEif+J  
    任务/系统说明 v}cm-_*v  
    Q"Bgr&RJ  
    3K#e]zoI  
    [KjQW/sb'  
    亮点 NgH%  
    tKJ) 'v?  
    JG4&eK$-  
    f0hi70\(X  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) :ss9-  
     严格分析光栅衍射效率 i!Ne<Q  
     考虑入射光的方向分布 bUqO.FZ[  
    {'vvE3iZ  
    说明:光源 C8n1j2G\  
    `rs1!ZJ,  
    JP@UvDE|  
    rre;HJGEL  
    说明:光束分束器 *tP,Ol  
    1r.q]^Pq~  
    IGI2).$[  
    L9AfLw5&X  
    说明:检测透镜系统 NtT)Wl  
    Xt~/8)&  
    IjrTM{f  
    Sa<R8X' J  
    说明:微型晶片 ")o.x7~N  
    LpF6e9V\Wp  
    1yE~#KpH  
    ''WX  
    说明:检测物镜 ?j OpW1  
    Y#N'bvE|%  
    }Rf } iG  
    X0C\87xfG  
    说明:探测器 +B&FZ4'  
    %EVg.k$  
    yBr{nFOgdY  
    pYa<u,>pN  
    结果:3D光线追迹(只有0级) 979L]H#  
    "n05y}  
    E]7G4  
     $hN!DHz  
    结果:3D光线追迹(所有级) ;j52a8uE'}  
    o= 8yp2vG  
    @lBH@HR=C  
    ?dTz?C.w  
    结果:光线追迹 ) .]Z}g&  
    ?s_q|d_  
    Q.8Jgel1  
    x,1&ml5  
    结果:场追迹 6: M   
    c''!&;[!  
    E*'O))  
    *]H ./a:1  
    结果:线性偏振光的场追迹 aH >.o 1;  
    "%Rx;xw|  
    "o TwMU  
     
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