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成像系统>包括光栅 1z8fhE iiE B !1L W4^ 任务/系统说明 E c!R 3+ _&$nJu  69``j{Z+ )dRB I)P 亮点 0&6(y*
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y.Q 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） !4+@b
s 严格分析光栅衍射效率 n_t.l< V 考虑入射光的方向分布 - lI6!a^ =K6{AmG$ 说明：光源 ']>/$[! N8`q.;qewz  ia%U;M (0 S;eM& 说明：光束分束器 FzQ6UO~' pIvr*UzY  D{iPsH6};5 x /?w1 说明：检测透镜系统 (!diPwcv od]1:8OF  W& 9X <c* FmtV[C # 说明：微型晶片 <ta#2 [gE2 ;J0*  sKL"JA
T -T .C?Q g 说明：检测物镜 7j{63d`2 x`zE#sD  U$6(@&P! .OvH<%g!. 说明：探测器 jRSY`MU}t+ d /` d:g  -ob1_0 hXP'NS`iv 结果：3D光线追迹（只有0级） p!p:LSk"/b ~5wT|d  "I^pb.3 sKGR28e 结果：3D光线追迹（所有级） Z oQPvs7_ #~;:i  FK`M+ j ?8@EBPpC 结果：光线追迹 *d,Z ?S/ iea7*]vW
 }Uunlz< sn:wLc/GAd 结果：场追迹 0^zp*u mu&%ph=
 eR:!1z_h Nmu=p~f}3` 结果：线性偏振光的场追迹 B-EDVMu f-a+&DB9  #(Ezt% ^
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