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    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 -*~ = 4m<  
    !8lG"l|,l  
    任务/系统说明 >v7fR<(%s  
    V7[6jW gH  
    {Fs}8\z  
    VgD z:j  
    亮点 /{>$E>N;  
    29("gB  
    tJ>%Xop  
    Uy2NZ%rnt  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) *1"xvle  
     严格分析光栅衍射效率 ajC'C!"^Ty  
     考虑入射光的方向分布 UCG8=+t5T  
    a"SH_+T{  
    说明:光源 ` Fnl<C<  
    )9I>y2WU~  
    !m"LIa#/Cs  
    O=~8+sa  
    说明:光束分束器 #S)] `YW  
    8mjPa^A  
    Yv<' QC  
    @ 32~#0a  
    说明:检测透镜系统 kW#,o9f\  
    5$f vI#NO<  
    R % [ZQ K  
    7=i8$v&GX  
    说明:微型晶片 zx` %)r  
    POvxZU  
    =^8*]/k  
    701a%Jq_2  
    说明:检测物镜 )3K#${p  
    O AJGwm  
    mN^w?R41m  
    Loz5[L  
    说明:探测器 XJg8-)T#  
    8Na.H::cZ  
    -#<6  
    }L mhM  
    结果:3D光线追迹(只有0级) H#H@AY3Y  
    >QyJRMY  
    w-iu/|}  
    :rxS &5  
    结果:3D光线追迹(所有级) be?>C 5  
    {1?94rz  
    kN7 J Z12  
    UWU(6J|Fk  
    结果:光线追迹 KLb"_1z  
    :j(e+A1@  
    a8 X}r.  
    d}D%%noIu  
    结果:场追迹 MoAie|MKe  
    /{1sU}k-  
    TF]bmM})0  
    X0:V5 e  
    结果:线性偏振光的场追迹 ~6{iQZa1Y  
    /x%h@Cn!  
    rA+UftC:p6  
     
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