切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 902阅读
    • 0回复

    [技术]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7208
    光币
    30181
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-27
    成像系统>包括光栅 xg;o<y KF  
    mTj ?W$+r  
    任务/系统说明 |3bCq(ZR\P  
    O)aWTI  
    aPwUC:>`D  
    S"@/F- 81  
    亮点 mA?fCs  
    fi,h`mdT?  
    sTS Nu+  
    1_jd1 UT  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) 5r)]o'? s  
     严格分析光栅衍射效率 G%HuB5:u  
     考虑入射光的方向分布 x+;a2yE~  
    .eHOG]H  
    说明:光源 61@;3yV  
    sQXj?5!  
    rRQKW_9mB  
    zR!p-7_w  
    说明:光束分束器 (-[73v-w  
    \C}_l+nY  
    lVYrP|#  
    ubQbEv{(,  
    说明:检测透镜系统 9 WO|g[Y3  
    $<s;YhM:u)  
    ]zATdfa  
    {8pN]=SaJ~  
    说明:微型晶片 1EemVZdY  
    1!=^mu8  
    a;h.I}*]  
    (MGYX_rD  
    说明:检测物镜 @OGHS}-\  
    :pCv!g2  
    0,]m.)ws  
    T^DJ/uhd  
    说明:探测器 [e`e bn[C  
    #/0d  
    p9-s'F|@i  
    NiSH$ MJ_  
    结果:3D光线追迹(只有0级) %F}i2!\<L  
    $.F.xYS9IJ  
    DLH|y%"  
    P^57a?[`  
    结果:3D光线追迹(所有级) d` X1cG  
    ?0x=ascP  
    w(oi6kg  
    k@[{_@>4^  
    结果:光线追迹 l{mC|8X  
    H(gETRh  
    d#CAP9n;'  
    6qd?&.=r  
    结果:场追迹 F #)@ c  
    phi9/tO\u  
    a797'{j#PI  
    ]ne  
    结果:线性偏振光的场追迹 0^83:C ^{  
    /^sk y!  
    |" ag'h  
     
    分享到