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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 IG?044Y  
    \Lxsg! wtJ  
                          
    t =ErJ  
         :zk69P3  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 F2yc&mXyk  
    >}` q4U6$  
    建模任务 v:c_q]z#B  
    Hn%n>Bnl  
    KXEDpr  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 PSX-b)wb  
    ;Ub;AqY  
    VY)!bjW.  
    _Y '+E  
    图层矩阵解算器 SqL8MKN)  
    zfDx c3e  
    -,NiSh}A  
    <4,n6$E  
    L Of0_g/  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Z `FqC  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 _{z.Tu  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 irSdqa/  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 [,s{/OM  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 qk pnXQ  
    更多的信息: }~Z1C0 t  
    *Z*4L|zT  
    总结-组件 *Z"9QX  
    P+!j[X^  
    (,~gY=E+  
    H"8fnN=xB  
    Zi47)8  
    rt r0 d  
    两条光谱线的可视化 V QE *B  
    >'3J. FY  
    精细vs.涂层反射率 ]K'iCYY  
    KN>U6=WN  
    ^a~^$PUqI  
    n5i#GvO^  
    精细度vs.涂层反射率 OHixOI$O  
    A+d&aE }3V  
    eIjn~2^  
    内部谐振增强
    b&s"/Y89  
    {7!WtH;-  
    gR)T(%W  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 E"7 iU  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 j,")c'r&dD  
    HE0UcP1U  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 NLHF3h=?1p  
    @l~zn%!X  
    VirtualLab Fusion技术 xh[De}@  
    `~'yy q  
     
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