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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 qvG@kuz8g5  
    (]N- HN]v  
                          
    Z]qbLxJV  
         iqr/MB,W  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 pq$-s7#  
    y$[:Kh,  
    建模任务 chA7R'+LA  
    " `FcW  
    ;7E c'nC4  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 7-#   
    Ra/Pk G-7  
    w?:tce   
    TQ5*z,CkS  
    图层矩阵解算器 w;;9YFBdM  
    !QS j*)V#  
    '8w>=9Xl  
    Gy)2  
    `i<omZ[aT  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 |ya.c\}q  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 {2F@OfuCF  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 a(uZ}yS$  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 #+#^cqjZ  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 o2~P vef  
    更多的信息: %%FzBbWAO  
    'S%H"W\  
    总结-组件 d$hBgJe>N  
    we8aqEomr  
    l}SHR|7<  
    |p.|zH  
    V:h7}T95  
    Z7XFG&@6  
    两条光谱线的可视化 N@0cn q:"  
    ZeLed[J^xJ  
    精细vs.涂层反射率 Z\3~7Ek2m  
    7YFEyX10d  
    7@ \:l~{  
    h8dFW"cpC  
    精细度vs.涂层反射率 Bmt^*;WY+  
    ^B:;uyG]M  
    3 3zE5vr  
    内部谐振增强
    pO92cGJ8  
    \@[,UZ  
    3$wK*xK  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ;SIWWuk  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _&%FGcAS  
    ?N^1v&Q  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 0X3yfrim  
    RqX^$C8M  
    VirtualLab Fusion技术 T+e*'<!O  
    "hi03k  
     
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