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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    nt 81Bk=  
    摘要 ZXqSH${Tp  
    a,@]8r-"  
                          
    \8)U!9,$nn  
         1->dMm}G[  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 @TLS<~  
    wa<MRt W=  
    建模任务 BWeA@v  
    )M,Of Xa  
    Yl4^AR&  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ^W`<gR  
    O,+1<.;+  
    j~2{lCT  
    ^1S!F-H4\  
    图层矩阵解算器 04LI]'  
    s1M Erd  
    yCd-9zb=  
    _(_a*ml  
    WK ts[Z  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ?Nup1 !D  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 aXQnZ+2e^R  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 <":;+ Ng+  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Hbj,[$Jb  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 EY^1Y3D w0  
    更多的信息:  A sQ)q  
    \l'm[jy>  
    总结-组件 3B1XZm  
    RJL2J]*S  
    0ZT5bg_M  
    G! ]k#.^A,  
    Nh8Q b/::  
    X@$f$=  
    两条光谱线的可视化 Upc+Ukw  
    |8&,b`Gfo  
    精细vs.涂层反射率 )_+rU|We  
    @G BxL*e  
    ;9[fonk  
    q 0$,*[PH  
    精细度vs.涂层反射率 G<At_YS  
    Uddr~2%(  
    4iqoR$3Fc  
    内部谐振增强
    j5K]CTz#  
    I!^;8Pg  
    gwOa$f%O  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 8e*,jH3  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 aH 4c02s$  
    WB?jRYp  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 NE"@Bk cm  
    bt"W(m&f  
    VirtualLab Fusion技术 B:dB,3,`(  
    9*2[B"5  
     
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