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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    Nr24Rv  
    摘要 U;%I" p`Z/  
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    rl#[HbPM  
         <G d?,}\  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 k 4|*t}o7  
    }6Y D5?4  
    建模任务 RZwjc<T  
    3awh>1N2 W  
    Mlr]-Gu5Z  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 @y3u'Y,B  
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    QL_~E;U  
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    图层矩阵解算器 ssdpwn'  
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    A\{dq:  
    G8Hj<3`  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ?|Q[QP  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 #9HQW:On  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 if|j)h&  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 "S#}iYp  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 [=Qv?am  
    更多的信息: Y\CR*om!W  
    0I|IL]JL  
    总结-组件 kzZdYiC  
    *{3&?pxx  
    >FrF"u:kM  
    &c;@u?:@S  
    eVRFb#EU0e  
    h>s|MZQ:*  
    两条光谱线的可视化 m(~5X0  
    K6vF}A|  
    精细vs.涂层反射率 z:Sr@!DZ  
    Z0fl]3p  
    M$|r8%z1  
    ^F5Q(A  
    精细度vs.涂层反射率 f-Yp`lnn.d  
    ["5Z =4  
    v };r  
    内部谐振增强
    kpxWi=y  
    !8cS1(a  
    D{b*,F:&@)  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 aSu6SU  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 :?!kZD!  
    >Ln/)j  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 VBHDI{HzRv  
    B,`B!rU  
    VirtualLab Fusion技术 g>])O  
    FlWgTn>  
     
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