,pDp>-vI% 摘要 /;(<fh<bY
8s QQK.N(
}x:\69$ CCuxC9i7 Fabry-Pérot标准具广泛应用于
激光谐振器和
光谱学中,用于敏感
波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或
玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的
标准具
光学测量
系统,以测量钠D线。利用非
序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。
dzgs%qtK J*}VV9H 建模任务 &e%{k@ b%3Q$wIJ6
ISpeV 具有高反射(HR)涂层的标准具 qAUaF;{
a4yOe*Ak,F
536^PcJlN .>k=A|3G 图层矩阵解算器 $|Q".dD
F`fGz)Mk
2#'rk'X,K a;56k MPjr_yc] 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
&\&'L|0F 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
6eD(dZ 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。
?$<SCN= 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
K{|w 43>D 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
(d54C(") 更多的信息:
L5R `w&Up K1;zMh 总结-组件 La\Q'0
Mx^y>\X)v
2y^Uk,g
Er`TryN|} W7%p^;ZQ$ :[L{KFQU 两条光谱线的可视化 1lbwJVY[ {*sGhGwr
精细vs.涂层反射率 W|lH
SrSG{/{
+:}kZDl@ X
k - FB
精细度vs.涂层反射率 "PMO
g+igxC}2z
+IvNyj|
内部谐振增强 <sa #|Y$ 1d`cTaQ- z|uOJ0uK 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些
曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
5xhM0( 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具
曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。
j(&GVy^;?
w(/7Jt$ 注意: 传输值取自艾里图案的中心
TS1pR"6l miwf&b VirtualLab Fusion技术 w_\nB}_
iA]DE`S