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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    OTbjZ(  
    摘要 2T?1X{g  
    oA^ ]x>  
                          
    l<:)rg^,  
         TEy.zzt  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 <UHf7:0V  
    MkIO0&0O  
    建模任务 ~V)VGGOL$v  
    1 jd=R7  
    ,}$x'8v  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 jF2GHyB  
    i}12mjF  
    9(\N+  
    .ceU @^  
    图层矩阵解算器 dtXJ<1:  
    N1zrfn-VU  
    fXR_)d  
    GeR -k9  
    2G*#Czr"  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Q#AHEm{9;s  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 F973U  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 "pJ EzC  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Lr]Hvd   
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 C)dYAq3,8  
    更多的信息: dQoMAsxzM  
    246!\zf  
    总结-组件 N`:b vr  
    [WSIC *|;  
    gG?*Fi  
    G(,~{N||  
    ~ZIRCTQ"  
    im%3*bv-  
    两条光谱线的可视化 `Y$5g~3.  
    icbYfgQ  
    精细vs.涂层反射率 y^fU_L?p  
    mh SsOmJ5  
    HBYpjxh  
    Dy'l]vN$  
    精细度vs.涂层反射率 9E*K44L/V  
    y.NArN|%  
    |1 6v4 R  
    内部谐振增强
    z-E4-\a  
    Z9EQ|WfS#-  
    dQ"W~ig  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 '.v^seU  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 q/G5aO*  
    r\D8_S_  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 1F8EL)9  
    s&hP^tKT  
    VirtualLab Fusion技术 O/~^}8TLL  
    YCdxU1V  
     
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