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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    YZ%f7BUk  
    摘要 <>*''^  
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    i2ml[;*,N  
         7dg 5HH  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Aya;ycsgE  
    RH'F<!p  
    建模任务 J*lYH]s  
    c"sw@<HG  
    M4hN#0("4  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 5W]N]^v  
    VY&9kN  
    tv=FFfQ  
    P2:Q+j:PX  
    图层矩阵解算器 <T_Nlar^^  
    @%@^5  
    IO&#)Ft  
    $ E~Lu$|  
    $5"-s]  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 g`8 mh&u%  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 _467~5JkU  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 8^"|-~#<  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 c{4nW|/W  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 wsGq>F~  
    更多的信息: % /4_|@<'  
    +q=jB-eIx  
    总结-组件 .HyiPx3^  
    $Q$d\Yvi  
    B?YfOSF=5  
    \ -iUuHP  
    0?L$)T-B  
    Tx?@* Q  
    两条光谱线的可视化 qF6%XKbh=  
    xo 'w+Av  
    精细vs.涂层反射率 i K[8At"Xo  
    N8(x),  
    NizJq*V>  
    Rw=E_q{  
    精细度vs.涂层反射率 =$zr t  
    .6/p4OR|  
    +#db_k  
    内部谐振增强
    ;WAu]C|  
    %Kfa|&'zV  
    `M<G8ob  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 PaeafL65=  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ~u`! Gi  
    lR K ?%~  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 `V_/Cz_}D  
    ,H(vD,54g  
    VirtualLab Fusion技术 ?&nz  
    iR5soIR  
     
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