[技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

6}='/d-[  
摘要 d rnqX-E;  
{>H#/I8si  
                       iS&~oj_-%  
     an_qE}P  
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 |5_bFB+&  
bY|%ois4  
建模任务 WPygmti}Be  
,d(F|5M:  
veFl0ILd  
具有高反射(HR)涂层的标准具
VUC  
vA2@Db}  
`zGK
$,[%  
F1JSf&8  
图层矩阵解算器 #4%4iR5%  
d)1)/Emyj  
T)&J}^j  
a% |[m,FvP  
[HI&>dm=$  
        分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 .=~beTS'Vo  
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 9_h3<3
e  
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 nF~</>  
        本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 @=,2{JF*6  
        这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 @'C f<wns  
更多的信息： u*B.<GmN  
8ar2N)59  
总结-组件 /ZqBO*]  
e48`cX\E  
nr*~R-,\  
9r-]@6;  
#t:]a<3Y2  
P
k9s~}X  
两条光谱线的可视化 cN0|! nm*  
9w'3d@  
精细vs.涂层反射率 sfNXIEr^  
xx0s`5  
4d4le  
Rn~FCj,-  
精细度vs.涂层反射率 Qmle0ae  
|7
n&I`#  

i/9QOw~  
内部谐振增强 M[$(Pu  
'c<vj jIg  
Nr=ud QA{  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 mt3j- Mw  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 b/Y9fQn  
mE(EyB<  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 Z]DO  
UZ0fw@RM  
VirtualLab Fusion技术 vn|u&}h  
5%"$
{ywI