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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 U&|$B|[  
    ,j('QvavJ  
                          
    \JLiA>@@  
         LEJ7.82  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 d%istFL)  
    N3};M~\  
    建模任务 diLjUC`69  
    Lu~e^Ul   
    "Jp6EL%  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 Hf/2KYZ  
    [\ JZpF  
    h,@x5q>g  
    o^Y'e+T"  
    图层矩阵解算器 T_}\  
    L?^C\g6u]  
    Q#bFW?>y,  
    Z v=p0xH  
    tc{23Rf%  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 g"3h#SMb  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 r[$Qtj Q  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 "gCSbMq(Vq  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 omV.Qb'NS  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 Oz9k.[j(  
    更多的信息: 2="C6 7TK  
    r)mm8MI!Z  
    总结-组件 EMH?z2iGd  
    iR#jBqXD  
    zYOPE 6E  
    U6=m4]~Z  
    $`'^&o;&f  
    0EXAdRR  
    两条光谱线的可视化 H[x9 7r  
    ?<  w +{  
    精细vs.涂层反射率 q_f v1U3  
    r _r$nl  
    /$rS0@p  
    9GZF39w u  
    精细度vs.涂层反射率 ,ASY &J5)7  
    &V( LeSI  
    qRB7I:m-Wi  
    内部谐振增强
    Qb# S)[6s+  
    (oJ#`k:&n  
    i6m;2 UAa  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 kXX RMR  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 73xI8  
    Zt` ,DM  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 4 qW)R{%  
    F{T|lTl  
    VirtualLab Fusion技术 dl{3fldb  
    g6W.Gl"5\w  
     
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