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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 ?.Vuet  
    M$%ON>K q  
                          
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         A;Y~Hu4KPZ  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 npltsK):  
    R9R~$@~G  
    建模任务 iKE&yO3  
    )/@KdEA:  
    X^N6s"2  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 nUpj+F#  
     94PI  
    ,--#3+]XU  
    z2YYxJ c&w  
    图层矩阵解算器 nMzt_IlI  
    p-{ 4 $W  
    =Pw{1m|k  
    >~Zj  
    y/Y}C.IWp)  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 U<0Wa>3zj  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 8xAIn>,_  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 >;,23X  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 / ^d9At614  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 A?#i{R  
    更多的信息: ]sb?lAxh{  
    1a(\F 7  
    总结-组件 Yq00<kIDJ  
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    rtz-kQ38R  
    WUie `p  
    Y+Z+Y)K  
    j[:70%X  
    两条光谱线的可视化 y4jiOhF<d  
    @NA+Ma{N  
    精细vs.涂层反射率 |e@1@q(a[]  
    gPB=Z!  
    e8 ]CB  
    m<3. X"-  
    精细度vs.涂层反射率 13/,^?  
    'XKfKv >;  
    fDns r" T  
    内部谐振增强
    ~3j +hN8<  
    {z_cczJ-  
    ];Noe9o  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 9D\E0YG X/  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ZrEou}z(*  
    ]I,&Bme  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 cI8\d 4/py  
    8Gy]nD  
    VirtualLab Fusion技术 _@XueNU1hS  
    ==?wG!v2h  
     
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