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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 mWT+15\5r(  
    $0_K&_5w~  
                          
    MJXnAIG?2  
         >Ku4Il+36  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 .<%tu 0  
    r&]XNq'P9  
    建模任务 d`^3fr'.4A  
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    I2[Z0G@&=  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 J3eud}w  
    I%YwG3uR  
    .q9Sg8G  
    V~*Gk!+f  
    图层矩阵解算器 >dl5^  
    v`A)GnNiN  
    7;EDU  
    Nk7y2[  
    u#76w74  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 W%L'nR~w$  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 hIe.Mv-I)  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 fDy*dp4z  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 "ko*-FrQ  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 z% 8`F%2  
    更多的信息: ^Arv6kD,  
    q/EX`%U  
    总结-组件 FRQ.ix2  
    @xWWN  
    m!FuC=e  
    /wJ#-DZ  
    & kC  
    g04^M (  
    两条光谱线的可视化 *yhA8fJ  
    JwSF}kNs}  
    精细vs.涂层反射率 X _ZO)|  
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    z!g$#hmL>  
    W.j^L;  
    精细度vs.涂层反射率 h4` 8C]  
    vbid>$%  
    cW%)C.M  
    内部谐振增强
    HMd?`  
    )\1>)BJq  
    KQf WpHwfj  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ;fNCbyg4 I  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 t\Vng0  
    ]o] VS  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 /8l-@P. o  
    jEBn"]\D  
    VirtualLab Fusion技术 r2RJb6  
    VIAq$iu7  
     
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