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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 SP vKq=,  
    +xU=7chA  
                          
    l=a< =i  
         M=1~BZQ(Z  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ^a|  
    %+(fdk-k+  
    建模任务 +JB*1dz>8  
    BDX>J3h  
    }{[p<pU$C  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 51;Bc[)%  
    3g0v,7,Zv  
    #9A*BbY  
    mAe)Hy %  
    图层矩阵解算器 :Z6l)R+V  
     ~!e(e2  
    hy3?.  
    @[5]?8\o  
    ?9~|K/`l  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ir_X65l/2  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Xa$tW%)  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 C2L=i3R  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 JaN53,&<  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 -(E-yC u  
    更多的信息: #BI6+rfv|  
    {!pYQ|#  
    总结-组件 Wa iM\h?=#  
    =[)2DJC  
    OjK+`D_C  
    xfqU atC  
    )<T2J0*  
    Qqp=  
    两条光谱线的可视化 OV-#8RXJ  
    LEAU3doK;  
    精细vs.涂层反射率 G%%5lw!y'  
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    O5JG!bGE_F  
    HZ89x|H k_  
    精细度vs.涂层反射率 @[;$R@M_3  
    - ysd`&  
    mvyOw M  
    内部谐振增强
    {dvsZJj  
    ?cD_\~  
    $-n_$jLY  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 #aadnbf  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 l YjPrA]TC  
    >UV=k :Q  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 tk+t3+  
    (2/i1)Cq  
    VirtualLab Fusion技术 :]`JcJ  
    {<2q  
     
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