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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    U}{r.MryFG  
    摘要 ZBnf?fU  
    `rM-b'D  
                          
    KpK'?WhX7^  
         WIb U^WJ0  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 0_j!t  
    V1Fdt+#  
    建模任务 7zNyH(.  
    g,q&A$Wi  
    N(IUNL  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 AFY;;_Xks  
    MqNp*n2  
    PmTA3aH  
    "? R$9i  
    图层矩阵解算器 R!-RSkB  
    E>7[ti_p5  
    MbJV)*Q  
    muY4:F.C(  
    b0 5h,  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 J M`uIVnNA  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 XCk \#(VSE  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 uEk$Y=p7!  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Kj}}O2  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 i|2Q}$3t2  
    更多的信息: /FQumqbnt  
    "V^(i%E;  
    总结-组件 6T)D6;@L  
    jF'S"_/?  
    0lW}l9}'-  
    T}g;kppC  
    H7R1GaJ  
    0z%]HlPg  
    两条光谱线的可视化 {o;J'yjre1  
    o05) I2  
    精细vs.涂层反射率 q3 9 RD  
    O!;!amvz  
    +nZx{d,wt  
    2"2b\b}my  
    精细度vs.涂层反射率 5Rc 5/m  
    xro  
    TMq\}k-I5  
    内部谐振增强
    P,*R@N  
    !$fBo3!B_8  
    6Si z9  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 0;]tC\D1  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ?-Oy/Y K  
    &a7KdGP8V  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 +A/n <VH  
    3"cAwU9  
    VirtualLab Fusion技术 I=. 98v%  
    U@i+XZc"S  
     
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