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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 I@9[  
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         f )K(la^'  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 /\C5`>x  
    ^DWhIxBh  
    建模任务 6<N Q/*(/  
    `-QY<STTP9  
    )mvD2]fK  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 8 DE%ot  
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    9]^ CDL  
    QXg9ah~  
    图层矩阵解算器 LYvjqNC&4  
    $`O%bsjX  
    E,g5[s@  
    @/yJTMcf  
    w=MiJr#3^  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 6l|,J`G  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 xY,W[?3CY  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 ;;; {<GEQ  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 [>y0Xf9^  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 1j":j%9M  
    更多的信息: 4(O;lVT}  
    0^ IHBN?9  
    总结-组件 x8q3 Njr  
    A(dWA e,  
    k),!%6\(  
    s`E^1jC  
    E` aAPk_ y  
    vE=)qn=a  
    两条光谱线的可视化 [sF z ;Py]  
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    精细vs.涂层反射率 ZlxJY%o eu  
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    @ %}4R`S0  
    cm!|A)~  
    精细度vs.涂层反射率 ,j|9Bs  
    %e,X7W`'2  
    u{SJ#3C5  
    内部谐振增强
    c5f8pa *  
    .o?"=Epo  
    ck"lX[d1  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 nC;2wQ6aO  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 A tU!8Z  
    R]y[n;aGC  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 RHOEyXhOA  
    !J@!P?0. C  
    VirtualLab Fusion技术 }q~M$  
    3xU in  
     
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