切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1055阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7172
    光币
    30001
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    ew+>?a'&L  
    摘要 yDapl(  
    #i;y[dQ  
                          
    PenkqDc}  
         `g}po%k  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 }'`iJ b\  
    f7_V ]  
    建模任务 zhZ!!b^6<  
    @f!r"P]  
    OC6v%@xa  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 \yhj{QS.k  
    Xk>YiV",?  
    \x=j  
    ]q`'l_O  
    图层矩阵解算器 w~AW( VX  
    B<{Yj}..  
    GT 5J`  
    Xmny(j)g  
    IkP; i_|  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 +/>XOY|Ie  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 {>Yna"p  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 \=2<< iv  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 cI\&&<>SlG  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 G,X>f?  
    更多的信息: ruU &.mZ  
    fB= j51Lw  
    总结-组件 M@]@1Q.p  
    PfN[)s4F{R  
    fR&x5Ika0  
    o?| ]ciY  
    2TccIv  
    WRqpQEY  
    两条光谱线的可视化 $DeVXW  
    {d '>J<Da  
    精细vs.涂层反射率 Ake$M^Bz  
    h$)4%Fy  
    cqG&n0zb  
    /k.?x]Ab  
    精细度vs.涂层反射率 x/L(0z  
    T@R2H&L  
    ja&S^B^@  
    内部谐振增强
    z3p TdUt  
    p~yGp] yJ9  
    8}Cp(z2  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 MlV3qM@  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 `^df la  
    3S"kw  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 U>hpYqf_  
    LMRq.wxbbB  
    VirtualLab Fusion技术 `u" )*Q}  
    x31Jl{x8\?  
     
    分享到