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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    ^c|_%/  
    摘要 uJ T^=Y  
    S^T ><C  
                          
    xTg=oq  
         ;9$71E  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 " `FcW  
    v8f1o$R  
    建模任务 7-#   
    Ra/Pk G-7  
    #%7)a;'  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 +^|_vq^XR  
    b|oT!s  
    !QS j*)V#  
    '8w>=9Xl  
    图层矩阵解算器 Gy)2  
    `i<omZ[aT  
    |ya.c\}q  
    AW8*bq1  
    ACOn}yH  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 )k.}>0K |  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ez<V  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 =~_  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 @L$!hTaP  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 {hFH6]TA  
    更多的信息: Q|xa:`3?  
    ?k dan  
    总结-组件 o3YW(%cYR  
    H)+QkQb}  
    Kk`Lu S?  
    gVNoC-n)  
    Jb*E6-9G  
    +\]Gu(z<  
    两条光谱线的可视化 2F :8=_sA  
    \{ve6`7Rn  
    精细vs.涂层反射率 =;"=o5g_  
    V]NCFG  
    VwOcWKD  
    _ee<i8_Va  
    精细度vs.涂层反射率 T~L&c  
    6n^@Ps  
    9y&bKB2,  
    内部谐振增强
    GZ^Qt*5 {  
    ?N^1v&Q  
    ;5DDV6  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。  />6ECT  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 #a9O3C/MP  
    b~qH/A}h  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 " T9UedZ  
    kH8/8  
    VirtualLab Fusion技术 NfUt\ p*  
    >, [@SF%  
     
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