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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    %^){Z,}M}  
    摘要 2mUq$kws  
    c{4C4'GD  
                          
    3vRRL  
         fw aq  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 z5G<h  
    R2{y1b$l  
    建模任务 J.'}R2gT1  
    S1oRMd)r  
    O=E"n*U  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 0>hV?A  
    UjLZ!-}  
    &?L K>QV  
    d]Y-^&]{]  
    图层矩阵解算器 oc .H}Eb%Z  
    mlC_E)Ed5  
    ^Wb|Pl  
    L=Cm0q 3 v  
    f9v%k'T[  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ,iKEIxA!  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 p)l>bC?3  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 1.\|,$  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 t\LAotTF/  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 _SU%ul  
    更多的信息: 9W{`$30  
    I4]|r k9  
    总结-组件 H}m%=?y@  
    L ;5R*)t  
    S[p.`<{J  
    Br w-"tmx  
    0I6[`*|SX  
    DY2r6bcn`  
    两条光谱线的可视化 .b'o}DLa  
    7/*Q?ic  
    精细vs.涂层反射率 cRYnQ{$'  
    4o7(cP  
    .48Csc-  
    ul0]\(sS:  
    精细度vs.涂层反射率 f-6hcd@Ca  
    Fkgnc{NI  
    i=b<Mz7|  
    内部谐振增强
    E/x2LYH  
    T)%34gN  
    [k~V77w 14  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ut26sg{s(  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 rv`kP"I  
    8r"$o1!  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 #1-y[w/  
    3GMRH;/w  
    VirtualLab Fusion技术 1rs`|iX5  
    8yr_A[S8.  
     
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