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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    CqRG !J  
    摘要 nzdJ*C  
    w1je|Oil  
                          
    |G5Me  
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    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 #sOkD  
    0koC;(<n  
    建模任务 YmS}*>oz  
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    _dT,%q  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 bk**% ]  
    ctv=8SFv(  
    b|cUKsL5  
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    图层矩阵解算器 Hvn{aLa.  
    zF6]2Y?k%  
    >&|C E2'  
    O;u&>BMk  
    ?3Ytn+Py  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ZE())W"  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 36<PI'l#~  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 p/4\O  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Sc!{ o!9\  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 A{5^A)$  
    更多的信息: z(AhO  
    j0p'_|)(  
    总结-组件 J!$q"0G'WT  
    XNwZSW  
    gg>O:np8  
    >i>%@  
    f_*Bd.@  
    `wJR^O!e  
    两条光谱线的可视化 p nS{W \Q  
    K[%)_KW  
    精细vs.涂层反射率 - I$qe Xy  
    ~bp^Q| wM  
    v'"0Ya  
    %<|w:z$vp  
    精细度vs.涂层反射率 Pd99vq/  
    87Sqs1>cw  
    l .8@F  
    内部谐振增强
    d]JiJgfa%  
    o1j_5c PS  
    p#VA-RSUQ|  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 =K6aiP$Ft  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ]UR@V;JG  
    xwZcO  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 _;] 3w  
    35dbDgVz$  
    VirtualLab Fusion技术 c~B[ <.Qj  
    Sga/i?!  
     
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