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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    +zK?1llt  
    摘要 /vpwpVHIpG  
    N]-skz<v  
                          
    yp)D"w4@  
         T(Ji%S >  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 H.[nr:  
    {s{+MbD  
    建模任务 "q KVGd  
    Jv kTfTE7  
    VAA="yN  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 n<1*cL:8B  
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    q2/kegAT  
    qMw_`dC  
    图层矩阵解算器 _na/&J 6  
    (gIFuOGi>  
    iUs_)1  
    Vi>P =i  
    O;|jLf_If  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 mY]o_\`  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 +No` 89Y  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 Eqi;m,)  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ab`9MJc;  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 WJk3*$=  
    更多的信息: n@6vCdk.  
    u8gqWsvruM  
    总结-组件 >">Xd@Wk  
    (}s& 84!  
    gf}*}8D  
    Sj o-Xf}  
    dKhS;!K9p  
    S(/ ^_Y  
    两条光谱线的可视化 |T]&8Q)S  
    }2S)CL=  
    精细vs.涂层反射率 O8Z+g{  
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    ?f6SKC  
    精细度vs.涂层反射率 *9|p}q9n  
    PXML1.r$Q  
    VVcli*  
    内部谐振增强
    K_k'#j~*?  
    }R%*J  
    Z!*6;[]SfG  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 h50]%tp\  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 JSID@ n<b?  
    XN{WxcZ  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 Uy*d@vU9c  
    ` TH\0/eE  
    VirtualLab Fusion技术 @pH6FXVGzt  
    ] ^?w0A  
     
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