[技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

J4gI=@e  
摘要 $R%+*  
YKP=0 j3,  
                       S}.\v<  
     rDIhpT)a  
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 H\)gE>  
<#xrrRhm}  
建模任务 20rN,@2<  
Zk]k1]u*5  
+"YTCzv;t  
具有高反射(HR)涂层的标准具 6Cl+KcJH  
ljup#:n  
=cdh'"XN  
@+?+6sS  
图层矩阵解算器 qs!>tw  
OlEpid'Z  
<TI3@9\qXE  
Az U|p  
L"[IOV9S  
        分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 *-9#/Cp  
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 tCWJSi`IJ  
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 RRx`}E9,  
        本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 `]K,'i{R  
        这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 RI(=HzB  
更多的信息： YO)')&  
gWFL  
总结-组件 rW:iBq  
uDILjOT  
uyL72($  
 LsQs:O  
LkaG8#m1R  
M'^(3#ZU  
两条光谱线的可视化 mYjf5  
;xSRwSNDi(  
精细vs.涂层反射率 8dc538:q}  
 pz$_W  
Lb!r(o>8Cb  
BwJNi6,  
精细度vs.涂层反射率 =f
o4x|{O  
PdR >;$1  
dF$KrwDK  
内部谐振增强 Tc:sldtCk  
%h0D)6j  
)j\r,9<K+5  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 <E"*)Oi  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 0HjJaML  
,MRvuw0P  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 f](I.lm:  
YjFWC!Qj$  
VirtualLab Fusion技术 =Wj{]&`  
_~ v-:w