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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    A7VF >{L./  
    摘要 Lg9]kpOpa  
    ^[&*B#(  
                          
    ;y=w :r\A  
         `WWf?g  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 5c{=/}Y  
    mrFMdpaHl%  
    建模任务 \Vm{5[:SA  
    m;K Mr6sO  
    ;NRm ,  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 6@H& S  
    J-Sf9^G  
    m1\>v?=K  
    -|J?-  
    图层矩阵解算器 Qyt6+xL  
    RvDqo d  
    -W!g>^.  
    pm5Yc@D  
    $T;3*D90  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 1?7QS\`)fB  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 `'0opoQRe  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 f,t[`0 va  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 IdzF<>;W  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 0AR4/5.  
    更多的信息: A javV  
    G`6U t  
    总结-组件 (>WV)  
    vk{4:^6.TV  
    F b`V.  
    eZ}FKg%2[  
    {[r'+=}l\S  
    "q#(}1Zd  
    两条光谱线的可视化 iW* 0V3  
    =xG9a_^v  
    精细vs.涂层反射率 `+"QhQ4 w  
    @3VL _g:  
    (c(?s`;  
    ip1jY!   
    精细度vs.涂层反射率 (O?z6g  
    U> q&+:+  
    3vrQY9H>  
    内部谐振增强
    <408lm  
    yv$MQ~]  
    1/HPcCsHb  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ;R 2(Gb  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 lFc3 5  
    :^l*_v{  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 "T~Ps$  
    Rw$ @%o%  
    VirtualLab Fusion技术 qIb(uF@l"  
    &<tji8Dj  
     
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