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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 .ts XQf  
    S+?*l4QK  
                          
    COd~H  
         '=d y =  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 rMJ4w['J=  
    1y eD-M"w  
    建模任务 5nK|0vv%2  
    ncpA\E;ff^  
    @@}muW>;T  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 -*2b/=$u  
    k"cKxzB  
    1+l[P9?R[  
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    图层矩阵解算器 Rli`]~!w  
    ^plP1c:  
    }}wSns  
    z[JM ]Wy  
    WK.,q>#  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 <4^y7]] F  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 #Zn+-Ih  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 fUJe{C<H  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 p4K 8L'nZ  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 Iapzhy2l  
    更多的信息: y;hco  
    (unJwh{7Q  
    总结-组件 HBw0 N?  
    j>~ @vq  
    NNRKYdp,  
    ])WIw'L!  
    + Cq&~<B  
    L)Da1<O  
    两条光谱线的可视化 `$/M\aM%  
    -Q1~lN m:  
    精细vs.涂层反射率 If|i `,Iy  
    , - _ReL  
    :5:_Dr<  
    =.9tRq  
    精细度vs.涂层反射率 ;bq EfV0`2  
    O)r>AdLGn  
    S7CD#Y[s  
    内部谐振增强
    &<C&(g{Z  
    ^Ux*"\/Es  
    _3gF~qr  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 > 'JWW*Y!  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Ki3 wqY  
    o2LUB)=R'  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 QSOJHRl=C  
    @2 SL$0!QA  
    VirtualLab Fusion技术 ~ o5h}OU"  
    b*< *,Ds/G  
     
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