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s@GE(Pu7 O(v>\MV Fabry-Pérot标准具广泛应用于
激光谐振器和
光谱学中,用于敏感
波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或
玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的
标准具
光学测量
系统,以测量钠D线。利用非
序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。
,4 q^( 2I& dTxIa 建模任务 *5?Qam3 {K}Dpy Z;BEUtR
c 具有高反射(HR)涂层的标准具 %s9*?6
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fe"w--v qs= i+ 图层矩阵解算器 =<)/lz] H
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6c27X/'Z rj4Mq:pJ 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
rc7c$3# X 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
Z=;=9<vA 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。
~X %cbFom= 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
Raetz>rL 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
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qoZAZ&|HI 1rU\ !GfR wdV)M? 两条光谱线的可视化 :B|rs& 'd;aAG 精细vs.涂层反射率 W~i0.rg|>
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精细度vs.涂层反射率 t=p"nIE
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内部谐振增强 Bxj4rC[ $[J\sokpY r8FAV9A 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些
曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
,5K&f\ 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具
曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。
Aqg$q* Y |Q?$n3-f" 注意: 传输值取自艾里图案的中心
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