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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 '['x'G50  
    JnQ@uZb`  
                          
    nI73E  
         ~Kt+j  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 }KftV nD?  
    BoARM{m  
    建模任务 v`qXb$YW  
    )C0I y.N-  
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    具有高反射(HR)涂层的标准具 'w/ S6j  
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    olHmRJ  
    X VH( zJ  
    图层矩阵解算器 qckRX+P`  
     ME5M;bz(  
    -0k{O@l"  
    k $# ,^)T  
    02:`Joy2D  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ;c@B+RquR  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 nF,zWr[x  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 mSEX?so=[  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 %?/vC 6  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 YQ1rS X3  
    更多的信息: g\49[U}[~F  
    tp\d:4~R  
    总结-组件 :hf%6N='kI  
    wr>6Go%  
    Psf{~ (Ii  
    0@ vzQ$  
    DoN]v  
    3r?T|>|  
    两条光谱线的可视化 {uqP+Cs  
    %Go/\g   
    精细vs.涂层反射率 XHJ/211  
    R3#| *)q  
     {yxLL-5c  
    "SC]G22  
    精细度vs.涂层反射率 Nk$|nn9#'  
    W6u(+P]("  
    bc& 5*?  
    内部谐振增强
    >v1.Gm  
    4dI`  
    W$z^U) |t  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 wjKc!iB  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Yqt~h  
    ki ?V eFp  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 A#F6~QX(.9  
    =6qSo @  
    VirtualLab Fusion技术 0OtUb:8LX  
    Izfq`zS+\s  
     
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