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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 "HRoS#|\  
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    3s iWq9 .  
         X|'EyZ  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 (U"Ub;[7  
    -c-#1_X5  
    建模任务 EG<YxNX,  
    W]!{Y'G  
    Vy;f4;I{  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 &uwj&-u?  
    Ys@M1o  
    B+G,v:)R6z  
    \{F{yq(  
    图层矩阵解算器 *u$MqN  
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    cPh U q ET  
    #}50oWE  
    ~7$E\w6  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 pyEi@L1p  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 8}m bfu o1  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 49%qBO$R  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 >hcA:\UPk  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 ~]HeoQK  
    更多的信息: ?Z-(SC  
    si.A"\bm  
    总结-组件 ]C |Zs=5  
    uJz<:/rwZ-  
    N zY}-:{  
    [h "*>J{  
    X {,OP/  
    "4c ?hH:C  
    两条光谱线的可视化 R:zPU   
    acuch  
    精细vs.涂层反射率 /+\m7IS  
    2 s,[DC  
    x`@!hJc:[e  
    SFrQPdX6V  
    精细度vs.涂层反射率 csg:# -gE  
    G}aw{Vbg_  
    *vn^ W  
    内部谐振增强
    LG6VeYe|\X  
    NET?Ep  
    ~b+TkPU   
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 8X=cGYC#  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 /.<tC(  
    c"OBm#  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 +g_+JLQ  
    BZy&;P  
    VirtualLab Fusion技术 [%(}e1T(  
    1iq,Gd-G.  
     
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