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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    M<P8u`)>4H  
    摘要 ==EB\>g|  
    9A *gW j  
                          
    @]Lu"h#u=  
         a`>H69(bU  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 0!M'z  
    \t)`Cp6,[b  
    建模任务 .sD=k3d  
    5t-, 5  
    `yO'-(@"gY  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ]88qjKL  
    >~_)2_j  
    ~EU\\;1Rmq  
    wZWAx  
    图层矩阵解算器 MfO: BX@$  
    .AZwVP<  
    tTWEhHQ`  
    =Q*3\ )7  
    I+ Y{_yw"f  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 .h(iyCxP  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 /@I`V?Q!a  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 w/*m_O\!  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ABcB-V4  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 dg_w$#  
    更多的信息: n}c~+ 0`un  
    $=) Pky-~  
    总结-组件 ~0@fK<C)O  
    qw{`?1[+  
    Pb sxjP  
    '.&Y)A6!  
    Sb(OG 6  
    -gUp/ #l1  
    两条光谱线的可视化 ?:G 3U\M  
    $tej~xZK  
    精细vs.涂层反射率 4]6-)RHFB  
    ck\W'Y*Q7  
    `evF?t11X  
    c94=>p6  
    精细度vs.涂层反射率 'b y+hXk  
    CP0'pL=;  
    B9Hib1<8  
    内部谐振增强
    Nd&UWk^  
    y G3aF(  
    3R0ioi 7  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 IdK<:)Q  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 V@[C=K  
    Qj*.Z4ue  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 72 |O&`O  
    8KYIHw  
    VirtualLab Fusion技术 FRQ0t!b<M1  
    T^(> 8/O  
     
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