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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    >ID 3oi  
    摘要 b${Kj3(  
    C+5^[V  
                          
    #l;Ekjfz  
         MLBZmM '  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 q6j]j~JxB  
    2d.I3z:[  
    建模任务 d /t'N-m  
    3J'a  
    DMf^>{[  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 _rs#h)  
    0QC*Z (  
    Qs% f6rL  
    aOYd "S}u  
    图层矩阵解算器 _LK>3S qd  
    2"__jp:(  
    ,nHz~Xi1t  
    7/*; rT  
    E&&80[tN]  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ;"Ot\:0  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 , R^Pk6m>  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 U4N S.`V  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Do_L  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 Z@ I%ppd  
    更多的信息: 40g&zU-  
    x,7a xx6  
    总结-组件 D ^ &!  
    (4g; -*N  
    qtgK}*9ptv  
    aY {.  
    *JpEBtTv=5  
    vG\Wr.h0!=  
    两条光谱线的可视化 Tu6he8Q-  
    10[~ki-1;  
    精细vs.涂层反射率 h M8G"b  
    ^k)f oD  
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    U{O\  
    精细度vs.涂层反射率 Q ?Nzt;)!.  
    !Uj !Oy  
    1qQgAhoY  
    内部谐振增强
    Z].>U!7W  
    n]o+KT\  
    *|=&MU*+  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 k~vmHb  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 \2+xMv)8  
    eq@ v2o7  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 @+{S-iD"  
    & 9?vQq|%  
    VirtualLab Fusion技术 d&ZwVF!  
    C#r`oZS1  
     
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