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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 l!ltgj  
    ,--/oP  
                          
    iOm~  
         [R)?93  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 nchhNU  
    C"PN3>x}j  
    建模任务 :W<ag a;J  
    WW2VW-Hk  
    UB@>i3  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 ,-ZAI b*  
    v1?P$f*g  
    j wlmWO6  
    JAj<*TB.%  
    图层矩阵解算器 f(=yC} si  
    M@UkXA}  
    ^QTl (L  
    'D#}ce)s#  
    y4$UPLm  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 A0# K@  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 O?L _9L*  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 %?J\P@  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 KS}Ci-  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 j)Zi4<./  
    更多的信息: 7Av/ZS  
     N c F  
    总结-组件 E,JDO d}  
    a"&@G=M@d  
    D"j =|4S#  
    B9KY$^J  
    W}EI gVHs  
    2w)0>Y(_  
    两条光谱线的可视化 Mii-Q`.:  
    64z9Yr@  
    精细vs.涂层反射率 wxB?}   
    g3 6oEz~|  
    u{"o*udU  
    [4]lAxrRF  
    精细度vs.涂层反射率 )TJz'J\*  
    H@bra~k-  
    EShc1KPqc  
    内部谐振增强
    ,WR$xi.j  
    h`Vb#5 ik  
    @4^5C-  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 FVMR9~&+  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 P5* :r3>  
    4,tMaQ  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 %h=)>5-T  
    ZD/>L/  
    VirtualLab Fusion技术 " E72j.  
    :k6|-A2  
     
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