切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1070阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7208
    光币
    30181
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    qTWQ!  
    摘要 %)d7iT~M  
    3 Sf':N`u  
                          
    b,jo94.G  
         u+6L>7t88I  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 :YX5%6  
    ;ioF'ov  
    建模任务 b ettOg  
    c% wztP;L  
    c1R[Hck  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 iW9  
    Ed-3-vJej6  
    spQr1hx<  
    6N Ogi  
    图层矩阵解算器 s6}SdmE  
    5~[][VV^  
    I+3=|Ve f  
    ;>5]KNj  
    @0tX ,Z9  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 o1{3[=G  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 9`H4"H>yG  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 c;a<nTLn  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 IZQ*D)  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 ESFJN}Q%0.  
    更多的信息: M,oZ_tY%  
    qrZ3`@C4k  
    总结-组件 y La E]  
    /&czaAR-  
    ?y  "M>#  
    :7Uv)@iUk  
    fb[lL7  
    O^ &m  
    两条光谱线的可视化 Bk5 ELf8pL  
    {}RU'<D  
    精细vs.涂层反射率 w|0:0Rc~u  
    aN,? a@B  
    6u`$a&dR'l  
    Ff =%eg]  
    精细度vs.涂层反射率 J5<1 6}*  
    `]l|YQz\  
    BbL]0i  
    内部谐振增强
    CQ{{J{pU"  
    yVKl%GO  
    2r+nr  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 U(OkTJxv+  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 bkpN`+c  
    \W=Z`w3  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 ;v.J D7  
    @FF{lK?[  
    VirtualLab Fusion技术 :>H{?  
    COBjJ3  
     
    分享到