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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    C8{CKrVE  
    摘要 O&X-)g=  
    95(VY)_6#A  
                          
    2.:b   
         ~S=hxKI  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 |L+GM"hg  
    pF8'S{y  
    建模任务 d3 N %V.w  
    =l_eliM/  
    {@3=vBl%O+  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 NuXU2w~  
    Rd#,Tl\  
    |Z "h q  
    [S9nF  
    图层矩阵解算器 s&tr84u|  
    Rdv"Aj:  
    @yek6E&9  
    :!#-k  
    ;N,7#l|wi  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 >! c^  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Q2#)Jx\6!  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 VSSiuo'5w  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 bRIb'%=+GA  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 t71 0sWh{  
    更多的信息: M.l;!U!}  
    I]$kVa1iN  
    总结-组件 K+GjJ8  
    \(A>~D8Fo  
    u(lq9; ;Th  
    q|6lw 74`  
    @r .K>+1  
    ;aFQP:l/  
    两条光谱线的可视化 |Rab'9U^  
    {<|0M%v  
    精细vs.涂层反射率 "%Rx;xw|  
    @cXY"hP`  
    T$q]iSgu  
    +q2l,{|?  
    精细度vs.涂层反射率 u{_T,k<!  
    xAoozDj  
    ] #J ]f  
    内部谐振增强
    *.K}`89T  
    c(eu[vj:  
    GEvif4  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 a-kU?&* y  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 _mn4z+  
    V&f3>#n\  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 Zwq_&cJK  
    T&{EqsI=B  
    VirtualLab Fusion技术 9:esj{X  
    jbg@CA*=C  
     
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