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tc<uS%XT4^ AYgXqmH~+ Fabry-Pérot标准具广泛应用于
激光谐振器和
光谱学中,用于敏感
波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或
玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的
标准具
光学测量
系统,以测量钠D线。利用非
序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。
R(`:~@3\6 4(|yl^w 建模任务 Z &Ciy n .w;kB}$YC
NC#F:M;b 具有高反射(HR)涂层的标准具 d&[RfZ`
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fT|A^ 图层矩阵解算器 W*t]
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Vv45w#w; KWZhCS?[( ocFk#FW 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含
nuXL{tg6 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和
3f] ;y<Km 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。
#3QPcoxa 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。
IQRuqp KL 这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
Jsysk $R 更多的信息:
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O=A2QykV( ?B1Zfu0 iCE!TmDT 两条光谱线的可视化 u3C_Xz Bchv1KF
精细vs.涂层反射率 ]xr0]
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精细度vs.涂层反射率 eF,F<IJT{
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内部谐振增强 #*'Qm
A T&?g) FfdB% 整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些
曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。
(-21h0N[V 请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具
曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。
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YV<y-,Io 注意: 传输值取自艾里图案的中心
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