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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 zzGYiF ?  
    4pU>x$3$  
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    建模任务 nxm$}!Df  
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    概述 [&S}dQ"  
    FE7)E.U  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 qf)$$qi  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Wo$%9!W  
    Ei>m0 ~<\  
    oT95^y\9  
    \[2lvft!  
    光线追迹仿真 I8   
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    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 @+,pN6}g  
    •单击go! SU_SU".  
    •获得了3D光线追迹结果。 gieJ}Bv  
    :7N3N  
    s Wjy6;  
    ~=r^3nZR/J  
    光线追迹仿真 c>bq%}  
    C R<`ZNuWz  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 he3SR @\T  
    •单击go! >n5:1.g  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ni&*E~a  
    QvPD8B  
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    场追迹仿真 eHg3}b2r  
    k5d\ w@G"~  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 '8FC<=+p[  
    •单击go! JMBK{JK>  
    pj|pcv^  
    s0UFym 8  
         rPzQ8<  
    场追迹仿真(相机探测器) :bU(S<%M  
    a5'#j35  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 q]& .#&h  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 JwnAW}=  
    DR9: _  
    zRl~^~sY  
    /BKe+]dS*  
    场追迹仿真(电磁场探测器) n;XWMY  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 *mG`_9  
    VU|dV\>  
    {-zMHVw=}  
         y k161\  
    场追迹仿真(电磁场探测器) y9Y1PH7G  
    iyx>q!P  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 L7Dh(y=;7  
    "HMP$)d  
     
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