[技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 52K_kB5  
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建模任务 ycB>gd  
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概述 fvccut;K  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 q@1!v  
•接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 'eg?W_zu  
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光线追迹仿真 zbn0)JO  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 TWE$@/9)g  
•单击go！ os*QWSs  
•获得了3D光线追迹结果。 gK7j~.bb"  
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光线追迹仿真 w A<JJ_R  
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•然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 KY$
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•单击go！ i)=!U>B_0  
•结果得到点图（二维光线追迹结果）。 #"% ]1={b  
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场追迹仿真 E`%Ewt$Z  
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•切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 +V*FFv  
•单击go！ 6-C9[[g<  
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场追迹仿真（相机探测器） J@'}lG  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 h7mJXS)t|  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 f;M7y:A8q,  
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场追迹仿真（电磁场探测器） e(E6 t_  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ~3
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场追迹仿真（电磁场探测器） rQgRD)_%w  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 [H$37Hx!  
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