jt]+(sx 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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rLVAI#ci= p"X\]g^jA> 建模任务 ypsCyDQK` QvqBT
}tJ:-!*2 概述 @9L%`=]b^ G +YF •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
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@ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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9~4Kbmr>q z1L. 光线追迹仿真 2AlLcfAW xqG`
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l •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
k!%HcU%J •单击go!
N-NwGD{ •获得了3D光线追迹结果。
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PffwNj/l 4RzG3CJdS 光线追迹仿真 n =v %}@f2 K@d`jb4T •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
)pzXC •单击go!
H)4Rs~;{'g •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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u}$U|Cw-;T > Euput\ 场追迹仿真 tG{Vn +~/ G3e%~ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
8pk5[=3Z •单击go!
Llzowlf e A7sej
]f-e/8$`@ CBvBBt* 场追迹仿真(相机探测器) E O}(MXS uIba{9tM"P •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
,<[os •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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wbpxJtJB O/5W-u 场追迹仿真(电磁场探测器) 1E-$f •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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7eq;dNB@gq ROfmAc 场追迹仿真(电磁场探测器) Wd%j;glG x,V_P/?% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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