OG}KqG!n 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
PbN3;c3 ~`[8"YUL
uO"8aD`W GNZ#q)qT 建模任务 Wr#~GFg G?ZC9w]rA
'!@A}&] 概述 I>hmbBlDv b9#m m •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
zq=&4afOE •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
UN(3i(d Bac| ;+L~L
6sy,A~e >~wu3q 光线追迹仿真 GhiHA9. ^'YHJEK •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
SwJHgZ& •单击go!
6>uQt:e •获得了3D光线追迹结果。
$eMK{:$O )Y8qWJU
&Ea"hd y($EK(cb 光线追迹仿真 Gym#b{#": g-|Kyhr?= •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
tNB%eb{ •单击go!
h[y*CzG •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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+Lhe, ydyG}XI7V 场追迹仿真 J@gm@ jLc pJocI_v9 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
SdSgn |S •单击go!
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44'y| 0}D-KvjyP 场追迹仿真(相机探测器) Wt"ww~h`( Nuo^+z
E •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
}1,'rmT •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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rxx qL,ka 场追迹仿真(电磁场探测器) [bsXF# •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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},v&rkwR G"{4'LlA 场追迹仿真(电磁场探测器) @]E]W#xAn D/cg7 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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