q }v04Yy,o 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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TKu68/\) &W<>^C2v 建模任务 j*~dFGl) + >gbZ-S
W%9K5(e 概述 K0RYI69_ ka)LK@p6 •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
u$=ogp=0 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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V*7Z,nA G1;'nwf} 光线追迹仿真 26#Jhb E+ ml33qXW: •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
<_a70"i •单击go!
Ma=6kX] •获得了3D光线追迹结果。
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feI[M;7u Jt>[]g$ 光线追迹仿真 kuj12 7l#2,d4 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
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y e(/N+I •单击go!
Op/79]$ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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N lKV\1(` 场追迹仿真 l'7Mw%6{ 0ve` •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
,P@/=I5 •单击go!
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.qIy7_^ ~C"k$;(n 场追迹仿真(相机探测器) % L ># Od!F: < •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
9o`7Kc/g •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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NlF0\+h zY1s7/$i 场追迹仿真(电磁场探测器) ksu}+i,a •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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k'@7ZH 0;FqX* 场追迹仿真(电磁场探测器) pM&]&Nk -3G 4vRIo •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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