LW(6$hpPp 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。
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N AoyX\iqQ 建模任务 vY_-Ranj#. >]c*'~G& 
+U@<\kIF 概述 LcE+ GC e>AE 8T •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
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GreN •接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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\7*`}& T' ~! 9Q 光线追迹仿真 n..g~ $k 1</kTm/Qa •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
.(WQYOMl0 •单击go！
%!1Q P[}K •获得了3D光线追迹结果。
m1*O0Tg]" B2O} 1. 
!3ctB3eJ x]33LQ1] 光线追迹仿真 w[ ~ #av9 ^53r/V }% •然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。
x@Hc@R<! •单击go！
3@]SKfoo1 •结果得到点图（二维光线追迹结果）。
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} GiHjzsR u #@Q:tnN_ 场追迹仿真 Tq~=TSD -uy `!A •切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
Ct% x&m: •单击go！
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fX|Y;S-@+ |u ;v27 场追迹仿真（相机探测器） H_Qs Nf %x}
O1yV •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
~b2wBs)r •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。
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+) m_o"hl 3F <VH 场追迹仿真（电磁场探测器） jXMyPNT K •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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0/ oyf]HR :dqn h 场追迹仿真（电磁场探测器） _:"<[ >9 c7FRI 0X •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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