L+8=P<] 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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kkT3wP O+p]3u 建模任务 u1tq2"D8 E2Us#a
NvUu. 概述 stX'yya `'kc|!%MUq •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
09G9nu ;&{ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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oDz*~{BHg =E&2 4 光线追迹仿真 Z"-ntx# O;UiYrXU •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
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w%g •获得了3D光线追迹结果。
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cT_uJbP+ mr@_%U 光线追迹仿真 sk~ za U&,r4>V@h> •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
be&6kG •单击go!
MhHr*!N"} •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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~*@H I%pCm||p 场追迹仿真 axWM|Bw<+ =]!8:I?C< •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
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3caI •单击go!
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J f\Qf %|#P&` 场追迹仿真(相机探测器) ny278tr Q7 PZKbnu •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
<dq,y> •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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0\V\qAk eA~J4k_ 场追迹仿真(电磁场探测器) bq c;.4$ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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bk/.<Rt 2v"wWap-+ 场追迹仿真(电磁场探测器) r$b:1 C~ z2rQ$O-# •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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