El<*) 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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(CxA5u1|l 6*9wGLE 建模任务 YK3>M"58 C!5A,| DX
+r8bGS]ki 概述 eTx9fxw +Ua|0>? •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
%)JEYH7Z •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
Wgls+<l8 ;9T}h2^`B
lln"c Sf, z 光线追迹仿真 &ry*~"xoh rY_~(?XS •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
VyxYv-$Y •单击go!
^U_T<x8{ •获得了3D光线追迹结果。
BkB>eE1)Ea Wm}c-GD
Q4"\k.
? crM5&L9zF 光线追迹仿真 1(?4*v@B /sKL|]i= •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
a+^`+p/5 •单击go!
iNA3Y •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
EJkHPn >D,Oav
15g!Q
*v !wy _3a 场追迹仿真 m+Ye`] l$;"yVdks •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
b&z#ZY •单击go!
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xp 场追迹仿真(相机探测器) JtL>mH 9pp+<c •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
\]tBwa •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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场追迹仿真(电磁场探测器) '$tCAS •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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\H] |5fp* 7OV^>"S 场追迹仿真(电磁场探测器) a1cX+{W +MoUh'/u •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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