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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    El<*)  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 wL?Up>fr  
    `sCaGCp  
    (CxA5u1|l  
         6*9 wGLE  
    建模任务 YK3>M"58  
    C!5A,|DX  
    +r8bGS]ki  
    概述 eTx9fx w  
    +Ua|0>?  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 %)JEYH7Z  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Wgls+<l8  
    ;9T}h2^`B  
     lln"c  
    Sf,z  
    光线追迹仿真 &ry*~"xoh  
    rY_~(?XS  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 VyxYv-$Y  
    •单击go! ^U_T<x8{  
    •获得了3D光线追迹结果。 BkB>eE1)Ea  
    Wm}c-GD  
    Q4"\k. ?  
    crM5&L9zF  
    光线追迹仿真 1(?4*v@B  
    /sKL|]i=  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 a+^` +p/5  
    •单击go! iNA3Y  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 E JkHPn  
    >D,Oav  
    15g! Q *v  
    !wy _3a  
    场追迹仿真 m+Ye`]  
    l$;"yVdks  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 b&z#ZY  
    •单击go! s:U:Dv  
    X8|H5Y:  
    FQ< -Wc  
         !/is+ xp  
    场追迹仿真(相机探测器) JtL> mH  
    9pp +<c  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 \]tBwa  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 l76=6Vtb  
    T+0=Ou"N  
    x%B_v^^^  
    p/h\QG1   
    场追迹仿真(电磁场探测器) '$tCAS  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &GP(yj]  
    d9f7 &  
    \H] |5fp*  
         7OV^>"S  
    场追迹仿真(电磁场探测器) a1cX+{W  
    +MoUh'/u  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 hLO)-ueb  
    &`D$w?beg  
     
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