>C,0}lj 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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l8E))oz1T \2u7>fU! 建模任务 Jm ,:6T `u3kP
,%Z&*/*Oh 概述 ;ZB=@@l( DvhFCA}z •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
[DpOI •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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#reR<qp&] ty!DMg# 光线追迹仿真 MNU7OX< ]|F`;} 7 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
.;31G0<w2 •单击go!
~98q1HgS]D •获得了3D光线追迹结果。
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>? o5AdZ >CG;df<~ 光线追迹仿真 At>e4t2@ u9:sj •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
_&(Wz0 •单击go!
@}jg5} •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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xe OfofC(l W\Il@Je; 场追迹仿真 h_X'O3r >WO;q •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
n<EIu •单击go!
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{uwPP2YD, H1~9f{ 场追迹仿真(相机探测器) 860y9wzU %>nAPO+e •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
UptKN|S&V •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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ci%$So2# v7j/_;JE; 场追迹仿真(电磁场探测器) 0XE6Hw •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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b7'A5]X @0:Eg 1- 场追迹仿真(电磁场探测器) 5:+x7Ed \Ogs]4 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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