U*rcd-@ 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
G/y5H;<9M Ke;E1S-~
U|H=Y"pL jodIv=C 建模任务 k{R> IEL%!RFG
<6%?OJhp 概述 .Bl\Z M~Tuj1? •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
y1jCg%'H •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
UP$.+<vm TNT4<5Ol6
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kN W]$w@.oW[ 光线追迹仿真 o)M}!MT ]\-A;}\e •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
F>SRs =_ •单击go!
{ T/[cu< •获得了3D光线追迹结果。
OR P\b nmee 'oEw
\Gef \ r8t}TU>C 光线追迹仿真 {r,.!;mHu E<rp7~# •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
nUaJzPl •单击go!
xWH.^o," •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
j.[.1G*(" x;O[c3I
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_O)>$.^6 场追迹仿真 C#.->\ '?{OZXg •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
~Py`P'+ •单击go!
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ql Ax 4!{KWL`A 场追迹仿真(相机探测器) -u+vJ6EY Gq)]s'r2 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
I.(,hFx; •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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7DogM".}~Q (Bb5?fw 场追迹仿真(电磁场探测器) -vo})lO •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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] 场追迹仿真(电磁场探测器) e-/&$Qq Lz}OwKl •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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