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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    U*rcd-@  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 G/y5H;<9M  
    K e;E1S-~  
    U|H=Y"pL  
         jodIv=C  
    建模任务 k{R>  
    IEL%!RFG  
    <6%?OJhp  
    概述 .Bl\Z  
    M~Tuj1?  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 y1jCg%'H  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 UP$.+<vm  
    TNT4<5Ol6  
    =g7x' kN  
    W]$w@.oW[  
    光线追迹仿真 o)M}!MT  
    ]\-A;}\e  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 F>SRs=_  
    •单击go! { T/[cu<  
    •获得了3D光线追迹结果。 OR P\b  
    nmee 'oEw  
    \Gef \   
    r8t}TU>C  
    光线追迹仿真 {r,.!;mHu  
    E<rp7~#  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 nUaJzPl  
    •单击go! xWH.^o,"  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 j.[.1G*("  
    x;O[c3I  
    C!O0xhs  
    _O)>$.^6  
    场追迹仿真  C#.->\  
    '?{OZXg  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ~Py`P'+  
    •单击go! B6+khuG(  
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    ql Ax  
         4!{KWL`A  
    场追迹仿真(相机探测器) -u+vJ6EY  
    Gq)]s'r2  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 I.(, hFx;  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 3GYw+%Z]  
    .|KyNBn  
    7DogM".}~Q  
    (Bb5?fw  
    场追迹仿真(电磁场探测器) -vo})lO  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 wq`s-qZu  
    P7bMIe  
    *gb*LhgO  
         b<[Or^X ]  
    场追迹仿真(电磁场探测器) e-/&$Qq  
    Lz}OwKl  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 _ gR;=~S  
    *->W^1eGM  
     
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