?N
ga 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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wM)w[ ry
?2 o! 建模任务 \bOjb\ w$ AG7}$O.
b-?o?}* 概述 uKy *N*} %SGO"*_ •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
WDdi}i>2 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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_6!/}Fm {1aAm+ 光线追迹仿真 R3n&o%$* >U<nEnB$? •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
noA\5&hqW •单击go!
k~f+L O •获得了3D光线追迹结果。
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:XSc#H4 Y:%)cUxA 光线追迹仿真 +^?-}v N[bN"'U/1 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
dyzwJ70K •单击go!
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J •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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^-GX&ODa Qz+d[%Q}x 场追迹仿真 @>2rz xm|4\H&Bg •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
m5w9l"U]H •单击go!
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kA%OF*%|6 d._gH#&v 场追迹仿真(相机探测器) !X%!7wsc +?Jk@lE< •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
9c{%m4 •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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u rXb!e{l $&=;9=" 场追迹仿真(电磁场探测器) {O kik}Oh •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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fsJTwSI[" mnQjX ? 场追迹仿真(电磁场探测器) .8qzU47E I^O:5x>[l •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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