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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    ?N ga  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 DVJc-.x8  
    ECScx02  
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         ry ?2 o!  
    建模任务 \bOjb\ w$  
    AG7}$O.  
    b-?o?}*  
    概述 uKy*N*}  
    %SGO"*_  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 WDdi}i>2  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 d_uy;-3  
    L{f>;[FR  
    _6!/}Fm  
    {1aAm+  
    光线追迹仿真 R3n&o%$*  
    >U<nEnB$?  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 noA\5&hqW  
    •单击go! k~f+LO  
    •获得了3D光线追迹结果。 /8}+# h)[  
    S I7B6c  
    :XSc#H4  
    Y:%)cUxA  
    光线追迹仿真 +^? -}v  
    N[bN"'U/1  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 dyzw J70K  
    •单击go! OLNn3 J  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 >iH).:j  
    GB?#1|,  
    ^-GX&ODa  
    Qz+d[%Q}x  
    场追迹仿真 @>2rz  
    xm|4\H&Bg  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 m5w9l"U]H  
    •单击go! M/a/H=J  
    =t$mbI   
    kA%OF*%|6  
         d._gH#&v  
    场追迹仿真(相机探测器) !X%!7wsc  
    +?Jk@lE<  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 9c{%m4  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 sNfb %r  
    qTHg[sME  
    urXb!e{l  
    $&=;9="  
    场追迹仿真(电磁场探测器) {Okik}Oh  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 NB5L{Gf6-  
    C.eV|rc@T  
    fsJTwSI["  
         mnQjX ?  
    场追迹仿真(电磁场探测器) .8qzU47E  
    I^O:5x> [l  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 9U9c"'g  
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