hLSas#B> 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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d+6-ten MM/D5g 建模任务 KZsJ_t++!W lT-LOu|
ARJ} h 概述 &_<!zJ;Hn 8(GJz ~y •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
5uvFCY./c •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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=8 Jq'-da I(0 *cWO 光线追迹仿真 OR-fC FP h1 }qS •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
9d >AnTf&H •单击go!
,g bQqoLV •获得了3D光线追迹结果。
i{nFk',xX R(cM4T.a
uY$BZEuAZ JQ"w{O 光线追迹仿真 =bl6: 47^R •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
fpPHw)dTd •单击go!
J4^aD;j •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
A{KF<Omu ~V!gHJ5M
q5ja \ YhFd0A?] 场追迹仿真 l]__!X GMYfcZ/,K •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
g/e2t=qP •单击go!
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@vkO(o |qX[Dk 场追迹仿真(相机探测器) uO}UvMW !6:X] •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
,e5#wz •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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-k"5GUc| 场追迹仿真(电磁场探测器) ?*2Uw{~} •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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{S5HH" 7C@%1kL 场追迹仿真(电磁场探测器) O7D61~G] z ,q1TU9 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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