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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-11-22
    "7kgez#Y  
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 &[5n0e[  
    /&]-I$G@  
    @ /UOSU  
         tw'hh@7-Y  
    建模任务 S<eZd./p6  
    @7@e`b?  
    8:HSPDU.  
    概述 R:w %2Y  
    -G],H)M  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 K85_>C%g  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 b/sOfQ  
    xH<'GB)  
    :[Qp2Gg O\  
    bZ>&QM  
    光线追迹仿真 D =r-  
    F!7f_m0=  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 cQT1Xi  
    •单击go! f?%qUD_#  
    •获得了3D光线追迹结果。 qyg*n>nt  
    &/](HLdF  
    g/IH|Z=A  
    g1ZV&X=2  
    光线追迹仿真 ^|wT_k\  
    f}[H `OF  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 @Ex;9F,Q  
    •单击go! cz2,",+~  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 -a  *NbH  
    Gn]d;5P=  
    LthGZ|>  
    )xB$LJM8  
    场追迹仿真 LZ~2=Y< U(  
    nVxq72o@  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 XtCoX\da  
    •单击go! Bul.RCP'  
    6nh]*/  
    jip\4{'N  
         _yj1:TtCNT  
    场追迹仿真(相机探测器) ^vpIZjN  
    MZT6g.ny  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 !w q4EV  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 RCI4~q  
    6m9 7_NRO  
    '!!e+\h#  
    :.#z  
    场追迹仿真(电磁场探测器) tXt:HVN  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 u7HvdLql  
    /D0RC  
    <EtUnj:qK8  
         <B!'3C(P  
    场追迹仿真(电磁场探测器) A2y6UzLYD  
     "Y7+{  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %`#G92Z_  
    F\5X7 ditD  
     
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