"7kge z#Y 高数值
孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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@ /UOSU tw'hh@7-Y 建模任务 S<eZ d./p6 @7@e`b?
8: HSPDU. 概述 R:w%2Y -G],H)M •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
K85_>C%g •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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:[Qp2Gg O\ bZ>&QM 光线追迹仿真 D=r- F!7f_m0= •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
cQT1Xi •单击go!
f?%qUD_# •获得了3D光线追迹结果。
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g/IH|Z=A g1ZV&X=2 光线追迹仿真 ^|wT_k\ f}[H
`OF •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
@Ex;9F,Q •单击go!
cz2,",+~ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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LthGZ|> )xB$LJM8 场追迹仿真 LZ~2=Y<
U( nVxq72o@ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
XtCoX\da •单击go!
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jip\4{'N _yj1:TtCNT 场追迹仿真(相机探测器) ^vpIZjN MZT6g. ny •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
!w q4EV •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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'!!e+\h# :.#z 场追迹仿真(电磁场探测器) tXt:HVN •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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<EtUnj:qK8 <B!'3C(P 场追迹仿真(电磁场探测器) A2y6UzLYD "Y7+{ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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