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.:e#!~Ki 摘要 sejT] rJ e*d lGK3l Xe(]4Ux D}UgC\u 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 +fq\K] yw1Xxwc 建模任务 12: Q`
`YO& p\Iy)Y2Lf! O3pd5&^g 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ]v:"
GB,ub*| +>yspOEz `G=+qti 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 KIKIag# WcpH="vm T7l,}G
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