-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-09-29
- 在线时间1866小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
{(4# )K2g% 摘要 k'Gw!p} ?OE#q$ g qe?Qeh(!X /Y,r@D 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 (ew}
gJ yG\UW&P 建模任务 t0q_>T-kt .oEbEs ~O{W;Cyh kx:jI^ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 bHE7yv [ vg)Z]F=t( rFey4zzz =LI:S|[4 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 X P;Bhz3j 4 /'N|c. /_)l|<k+V
|