[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

S+x_c4 T  
摘要 H D/5!d  
,[48Mspp  
E\)eu1Hw4B  
83]PA<R  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 "Q+83adY4x  
      ((DzUyK  
建模任务 0x)dnq\  
e`UQz$4!  
p5]_}I`+2  
eE:&qy^  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 e(\I_  
whc[@Tyx  
"/%89 HMD  
 ;\b@)E}  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Yx?aC!5M  
Jj"HpK>[  
OHp5z? z