-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-08-04
- 在线时间1820小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
}vx,i99W? 摘要 1@ &J"* LVm']_K(f DNgh#!\X $IX(a4' 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 E<u(Yw6= 4|I;z 建模任务 ((#BU=0iK &\~*%:C r(Z?Fs/ <pa-C2Ky 由于组件倾斜引起的干涉条纹 "(p /3qFY cZF|oZ6< eFS$ ;3FP1 sb3z8:r 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 yHC[8l8% \o2l;1~ zA+0jhuG
|