[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

ze!S4&B  
摘要 o9)pOwk7;  
8*rd`k1|g  
Qe=,EXf  
Z:VqBqK  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 I^iJ^Z]vx  
     d52l)8  
建模任务 }."3&u't  
?CB*MWjd  
7^|oO~x6  
[6@{^  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 /
+\m7IS  
2s,[DC  
Sa!r ,l  
^,L vQW4  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 csg:#-gE  
G}aw{Vbg_  
P-9
[,3Zd