-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-09-16
- 在线时间1983小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
mfr|:i 摘要 W=?<<dVYD 59u}W 0 %N._w!N<5n $&c*'3 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 W>r+h-kR tw@X>
G1z 建模任务 FS O).=# Di{de` UN#S;x* nw<uyaU-t 由于组件倾斜引起的干涉条纹 }SZd i%?* @uj +}AI@+
dZuOrTplA 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 z1a7*)8P $??I/6 n$R)>nY
|