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Xrb7.Y0d 摘要 7nnF!9JOv <<?32r~ #tu>h bVU4H$k 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 W/BPf{U SgxrU&:: 建模任务 dX/7n= ZtO$kK%q; kVWcf-f pt.V^a 由于组件倾斜引起的干涉条纹 2T+-[}* \O "`o4 *`"+J_ =AzPAN#e 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 _*e_?]G- -V{"Lzrfug >Vt2@Ee
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