[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

P_Z M'[  
摘要 TS1pR"6l  
ol50d73B  
yXkt:O,i  
gRHtgR)T3  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Z?-;.G*  
     Bu&So|@TL  
建模任务 3be6p  
$Ru&>D#stK  
Qr<AV:  
V)=
Z6ti  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 Qy/uB$q{A  
L,#^&9bHa#  
z23#G>I&  
NJk)z&M  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ;r3}g"D@  
(9E( Q*J5x  
KVg[#~3