[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]


_I)TO_L;  
摘要 5xT, O  
C!_=L?QT^  
`]]m$  
[-`s`g-  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 =Crl{Ax  
     yfwR``F  
建模任务 /?BTET  
&R/-~w5  
Lww&[|k.  
l_2Xao$  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 m,+E5^  
t.&JPTK-H  

^0"fPG`  
nYC.zc*ox  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 alxIc.[  
Bd*Ok]  
GQ85ykky