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xxX/y2\ 摘要 8[5|_Eh+ mBl7{w;Iv WYIw5jzC UVX"fZ) 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 "n?<2
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建模任务 rY70^<z 2R@%Y/ }5gr5g\OtP #}o<v|; 由于组件倾斜引起的干涉条纹 mvTb~) /8e W@IO.F >Q2). E xb^Mo.\[ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 vA?_-. J 9N
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