[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

f>p;Jh{2fn  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 5OKbW!  
WnUYZ_+e!  
IU Dp5MIuR  
7z F29gC  
1. 案例 GW`9SB  
o1I{^7/  
5;dnxhf  
  )ALf!E%{  
在VirtualLab Fusion中构建系统 ?N$  
X<Vko^vlj  
1. 系统构建模块 7c+TS--  
#XC\=pZX  
P"3{s+ r  
4Hk
Og)a  
2. 组件连接器 WI}P(!h\J  
_?O'65  
Bv!j.$0d{  
  fTV:QAa;  
几何光学仿真 `sJkOEc`  
;'R{b$B;|  
以光线追迹 _~5{l_v|I  
g4I(uEJk  
1. 结果：光线追迹 rf]]I#C7  
mv<z%y?Oj  
8BLtTpu  
  ^aXyho  
快速物理光学仿真 ha3 Qx  
}2V|B4  
以场追迹 vpOzF>O  
).-B@&Eu%  
1. NA=1.4时的光栅成像 e[w)U{|40  
2x3&o|J  
hD # Yz<  
     <E$5LP;:  
2.  NA=0.75时的光栅成像 }MXZ  
   VJZ   
/g@.1z1w  
     R}>Gk  
3. NA=0.5时的光栅成像 K^s!0[6  
       ?sp  
!t~S.`
vF