[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

! FR%QGn1  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 *j/S4qG  
%h"qMs S  
6hM]%  
n|x$vgb  
1. 案例 bbNU\r5%  
{eEC:[  
SY'2A)  
  w!WRa8C  
在VirtualLab Fusion中构建系统 V\6(d  
WDEe$k4.  
1. 系统构建模块 !6zyJc@01  
ok`]:gf  
wy{\/?~c  
iUIy,Y  
2. 组件连接器 hhpv\1h#  
Bf5&}2u  
<Zp^lDxa  
  L6:W'u^  
几何光学仿真 q]6_
rY.  
K DYYB6|  
以光线追迹 v<;: 0  

|1(rr%  
1. 结果：光线追迹 *me,(C  
l#D-q/k?  
I?a8h`WS+  
  "v(G7*2  
快速物理光学仿真 T&r +G!2  
nW4Vct  
以场追迹 hCzjC|EO~  
W.A1m4l58R  
1. NA=1.4时的光栅成像 y(bsCsV&  
8p (!]^z  
Z-)[1+Hs  
     -IBO5;2_  
2.  NA=0.75时的光栅成像 UvkJ?Bu  
   j2|XDOf  
}A{_L6qx  
     [@m[V1D  
3. NA=0.5时的光栅成像 b5AGk  
       U~aWG\h#X  
zKLn!b#>