[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

?q2j3e[>  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 JD>d\z2QC  
H2gj=krK  
$Byj}^;1  
=64r:E  
1. 案例 UAS@R`?
cI  
w-B^ [<  
u?ek|%Ok  
  >>dm}X  
在VirtualLab Fusion中构建系统 ~Z/ ^c,[:  
pC,o2~%{  
1. 系统构建模块 4wzlJ19E(  
A?5E2T1L%.  
`D7C?M#j]  
}n,Zl>T9  
2. 组件连接器 $>M<j  
89}Y5#W  
1&=0Wg0ig  
  cNpe_LvW  
几何光学仿真 oj,lz?  
>M
!xiQX  
以光线追迹 ^(}585b  
`L;eba  
1. 结果：光线追迹 O^>jdl!TZ  
wle@vCmr  
!M<{E*  
  l7(!`NPbC  
快速物理光学仿真 %WG9 dYdS  
Rx36?/  
以场追迹 S/vf'g
j  
{@}?k s5  
1. NA=1.4时的光栅成像 TZir>5  
$5`!Z%>/  
fJ*:{48  
     iyZZ}
M  
2.  NA=0.75时的光栅成像 ek aFN\  
   NBh%:tu7M  
TfxwVPX  
     !;@_VWR  
3. NA=0.5时的光栅成像 :A46~UA!$  
       egR9AEJvz  
6< J #^ 6