[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

<@zOdW|{:  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ]%mg(&p4  
]B5\S  
o+aB[+  
# ^%'*/z  
1. 案例 VQ}=7oe%q  
:uI}"Bp  
$@K+yOq+u  
  ly^F?.e-  
在VirtualLab Fusion中构建系统 }[75`pC~O  
;9prsvf  
1. 系统构建模块 pwu5Fxn)  
~xHr/:  
pq4+n'uO  
c)$/Uu  
2. 组件连接器 :$94y{  
H
M76%9!  
b
k>M4l61  
  g5Hs=c5=\  
几何光学仿真 ~u3I=b  
*XNvb ^<  
以光线追迹 sL!6-[N  
F*]AjD-  
1. 结果：光线追迹 K IqF"5  
bBDgyFSI<  
uF<F4m;  
  [[bMYD1eO  
快速物理光学仿真 J0s8vAs  
>\@6i s  
以场追迹 ZN
uyGo;  
5E.cJ{  
1. NA=1.4时的光栅成像 Ky$<
WZs  
4uTYuaCNs  
ETtK%%F0  
     \x|(`;{  
2.  NA=0.75时的光栅成像 )Wc#?K  
   "+)ey>_  
%GHHnf%2Z  
     o}NKqA3  
3. NA=0.5时的光栅成像 - +>
~  
       fEgZ/p!g  
`N|WCiBV.