[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 :^PksR  
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1. 案例 k'PvTWR  
DrKB;6  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 Bp_R"DS7A  
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1. 系统构建模块 _<LL@IX  
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7M~sol[*  
VK]U*V1  
2. 组件连接器 \OA{&G.  
l>}f{az-T  
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几何光学仿真 UPU$SZAIx  
z,G_&5|f%  
以光线追迹 =K18|Q0m  
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1. 结果：光线追迹 J _;H  
+ZM,E8  
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快速物理光学仿真 Q0Ft.b  
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以场追迹 0mujf  
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1. NA=1.4时的光栅成像 ![^pAEgx  
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     A,9JbX  
2.  NA=0.75时的光栅成像 x{SlJ%V  
   -3R:~z^L  
dHUbaf:e)T  
     \]V:>=ry>  
3. NA=0.5时的光栅成像 IibrZ/n6  
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