[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

/_x?PiL  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 2p@Rr7  
@w,-T@nAW  
ub+>i  
!7AW_l9`i  
1. 案例 M
`Y~IG}  
D>?%p"e  
b,KQG|k  
  ZaH<\`=%  
在VirtualLab Fusion中构建系统 "p#mNc  
FFR_1Vf  
1. 系统构建模块 GLnj& Ve  
lY.FmF}k  

.9lx@6]+  
46Nl];g1`  
2. 组件连接器 WkXa%OZ  
-AD3Pd|Y[  
Xy_+L_h^  
  _D$|lk-  
几何光学仿真 # T$^{/J  
mJ#u]tiL  
以光线追迹 @,i:fY  
~-A5h(  
1. 结果：光线追迹 x}AWWmXv  
eDX{}Dq(  
z1T.\mzfX  
  'r(}7>~fC  
快速物理光学仿真 Iy8Ehwejd  
B3c rms['  
以场追迹 XlV#)JX  
+sQ=Uw#e  
1. NA=1.4时的光栅成像 $ze%!C  
dF5EIPl;J  
qg'RD]a>R  
     jC@$
D*"J  
2.  NA=0.75时的光栅成像 eqZ V/a  
   (O\5gAx  
8JJqEkQ  
     Gi6s
l_"q  
3. NA=0.5时的光栅成像 a+uSCs[C  
       9K@`n:Rw  
iNe;h|