[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

Y}1c>5{bE  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 fEX=csZ86  
e=WjFnK[x7  
%/"n(?$W  
=o~GLbsER  
1. 案例 QYboX
~g~p  
qD4]7"9  
8 {
V9)U  
  68Gywk3]=u  
在VirtualLab Fusion中构建系统 $[A\i<#  
mAtqF %V  
1. 系统构建模块 D2?H"PH  
\
xj;{xc  
%'yrIR  
{d'-1z"q  
2. 组件连接器 \3$!)z  
eHuJFM  
MQQm3VaKS  
  U}RBgPX!  
几何光学仿真 0RT8N=B83  
IHni1  
以光线追迹 MLu!8dgI  

kFv*>>X`  
1. 结果：光线追迹 lL:a}#qxU  
Dz(\ ?  
=~GP;=6  
  }/F$73Xd  
快速物理光学仿真 (?fU l$q\  
Y%.o TB&  
以场追迹 9%"7~YCDas  
#$I@V4O;#  
1. NA=1.4时的光栅成像 j#1G?MF  
"XR=P> xk  
"`$,qvNN  
     h0'*)`;z  
2.  NA=0.75时的光栅成像 #i[:oC6m:  
    bDkZU  
zj1~[$  (  
     1f`De`zXzr  
3. NA=0.5时的光栅成像 Y~WdN<g  
       HIXAA?_eh=  
qq/>E*~