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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 NZN-^ > cL8#S>>u.
zq1mmFIO g(O;{Q_ 建模任务 g\GdkiIj ~|wos-nM Y${l!+q 概述 Jti(b*~ T\VNqs@ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ?3Ij*}_O2 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 0W`LVue Px5t,5xT8
l{ex? 7n)&FXK` 光线追迹仿真 A =Dhod VGw(6`|! •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 h{lDxOH* •单击go! WxbsD S; •获得了3D光线追迹结果。 9kKnAf4Z Sd IX-k.
IMQ]1uq0$ JNWg|Qt 光线追迹仿真 A>NsKWf{ ^D@b;EyK •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 I\\QS.2 •单击go! &X`u9 V •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 f>$h@/-* gQ~5M'#
IfDx@ ?OB -{|`H[nmD 场追迹仿真 [ neXFp}S <-UOISyf •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 #$\fh;!W •单击go! N0n^L|(R 7.<^j[? LF*Q! e=/&(Y 场追迹仿真(相机探测器) L6
6-LMkH v|
z08\a[ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 SC#sax4N!= •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 (}!C4S3# +rNkN:/L
OySy6IN]q S"snB/ 场追迹仿真(电磁场探测器) HTz+K6& •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Mo|wME#M TUp%FJXA| F.q|x|9j K2'O]# 场追迹仿真(电磁场探测器) IGj`_a :ipoD%@ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Q^eJ4{Ya: 3$M3Q]z
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