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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 nz^nptw cv3L&zg M
Ig<}dM.Z[ kEO1TS 建模任务 zVdKYs i^ xJ-*%'(KZ D/Rv&>Jh 概述 l{8CISO* ASR-a't6 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 JfMJF[Mb
•接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 h-7A9: ;v_ls)_,-
1YFeVMc s}wO7Df=+ 光线追迹仿真 I-,>DLG ?FN9rhAC •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 W+8^P(
K •单击go! 5:c;RRn •获得了3D光线追迹结果。 m=H_?W; kfXS_\@iW1
6z Ay)~ QO2Ut!Y 光线追迹仿真 wS V@=)H\: i-b1d'?Rb •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 gt/!~f0r •单击go! gV|Y54}T •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 H<,bq*@ #pX8{Tf[
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10nQ 场追迹仿真 !3h{lEB k52QaMKa~A •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 (k8Z=/N~ •单击go! QWw"K$l zj{(p Z1 to'j2jP p5-<P?B 场追迹仿真(相机探测器) y:.?5KsPI &U&Zo@ot"x •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 6}ftBmv •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 uJY.5w dMJ!>l>2
>yKpM }6l{ .a:Z!KF 场追迹仿真(电磁场探测器) M6_-f ;. •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ds]?;l" LJWTSf"f? z?kd'j`FG _s*!
t 场追迹仿真(电磁场探测器) i:d`{kJ|[ kon5+g9q •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Ukc'?p,* /'4Q{8.a
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