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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ,IHb+ K TQ@d~GR
D=r)) YT#3n 建模任务 [bz T&o <|B1wa:| C.Uju`3 概述 RFaSwf,5n UUe#{6Jx_ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 XGrue6ya •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 N)2f7j4C& -~{c
u47_
'tgKe!-@ ?~e3&ux 光线追迹仿真 u{<"NR h }_'IE1bA •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 (!L5-8O •单击go! :mppv8bh •获得了3D光线追迹结果。 Jju#iwb (N-RIk73/O
pKUP2m`MW 9A'Y4Kg<C 光线追迹仿真 g=L]S-e SLL3v,P(7 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
-fI`3# •单击go! ||7x;2e •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ;bzX%f?|G v X~RP
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<W8t|jt ;*TIM%6# 场追迹仿真 XN=67f$Hw S0,R_d') •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 $@-P5WcRs •单击go! %8~Q!=*Iq hXIro %M
F;`; 1
zG }? 场追迹仿真(相机探测器) 'NjzgZ~]P JCx
WWre •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 5zJj]A •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 kl!wVLE {6;9b-a]
#AkV/1Y ^ 2GHe<Y 场追迹仿真(电磁场探测器) jdZ~z#`(!: •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 -&x2&WE' P9Yy9_a|x E907fX[R~ h`
U?1xS 场追迹仿真(电磁场探测器) j`'`)3f x5`br.b •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 J?@DGp+t ,j;m!V
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