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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 s${|A= ~a
RK=i$F
@x4IxGlUs YS|Ve*t(L= 建模任务 q<2b,w== ML= :&M!ao HT@/0MF{J 概述 0DIXd*oj & "^3pP(8;~ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Y7L1`<SC •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 @4EC z>Q ^|+;~3<J
5N'Z"C0 Dg_AoC 光线追迹仿真 b+DBz}L4 l^"HcP6 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 PL6f**{- •单击go! d_r1}+ao •获得了3D光线追迹结果。 <:gNx%R FJYc*l
=yy7P[D }0(.HMiGj 光线追迹仿真 0**.:K<i Eqc,/ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 {WYHT6Z •单击go! {YoK63b$ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 yo=0Ov CPj8`kl
p~!UE/V Sph:OX8 场追迹仿真 'K:zW>l ?~_[/ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 &|8R4l C| •单击go! pMy];9SvW [fjP.kw;J cIJqF.k o7A+O%dX 场追迹仿真(相机探测器) 7B"*< %< k9|8@3(h •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 =,4iMENm! •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 =Co[pt 1[&V6=n
{*jo,<4ee <hA1[S} 场追迹仿真(电磁场探测器) {0t-Q k •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 j4fv-{=$ /eI]!a m[t4XK HL*Fs /W 场追迹仿真(电磁场探测器) NUvHY: :w+2L4lGs •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 4U1!SR]s >Y\$9W=t
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