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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 9AQMB1D*v4 Cz@[l=-T7
aq/'2U 7 0c*y~hUVZ 建模任务 .{U@Hva_K \[</|]'[
LJ7Qwh_", 概述 }c/p+Wo o'nju.' •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 oJ}!qrrH •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 9 -7.4!]I {.=4;
O3,IR1 -90qG"@ 光线追迹仿真 ;{@ [ek6 _?]E)i'RI •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 [K_v,m]
•单击go! 8BP.VxX •获得了3D光线追迹结果。 q)S70M_1 KI&+Zw4VL
('yBIb\ue 1&\ A# 光线追迹仿真 U/2]ACGCN^ ico%_fp •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 $
{29[hO •单击go! Z!\xVCG"q •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 7RW5U'B 1u4)
<\i}zoPO dg#w/}}m 场追迹仿真 !brXQj8D7 P,.<3W"4i •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 \KmgFyF •单击go! a%R'x] b5r.N1ms "`Y.N$M`k ce3w0UeV 场追迹仿真(相机探测器) >,JLYz|</ 01bBZWX •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 R+}x# •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 !YJfP@"e6r rof&O
3=r#=u5z (N63k1M 场追迹仿真(电磁场探测器) IB~`Ht8
b •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 SRL`! ci]IH]x v]`}T/n :)/%*<vq, 场追迹仿真(电磁场探测器) Vn:BasS%
U~%V;*|4 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 >GR L5Iow (?luV#{5
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