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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 _R/^P>Q? \+9~\eeXb
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\8|`Zb 76'@}wNnw 建模任务 =P}BAJ hwD;1n \Ei(HmEU 概述 Jm#mC k'6Poz+< •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 = n>aJ(=Pd •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 @gc|Z]CV 'c[|\M!u
GS*Mv{JJ NT1"?Thx| 光线追迹仿真 'B"A*!"b -O~V4004 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 eV"Za.a. •单击go! \>7hT;Av=G •获得了3D光线追迹结果。 i!nPiac ",O}{z
(>)f#t[9J dv7IHUFf 光线追迹仿真 QIb4ghm, :nLhg$wMs •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 L_~vPp •单击go! ^.Xom~ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Fv!KLw@
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_yH=w'8. 3;E,B7,mQ 场追迹仿真 #P,C9OQD jI%g! •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ^#0k\f>_ •单击go! `A0trC3 wI{ED J]"IT*-Ht B|pdqSI 场追迹仿真(相机探测器) +\D?H.P 4k6,pt" •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ;zpSyyp@ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 $%GW~|S\C FCp\w1+
'*d);{D8 7%7 \2!0J} 场追迹仿真(电磁场探测器) B098/`r •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 O9/7?"l" 15)y]N={^ bAkCk]>5 >P_/a,O8 场追迹仿真(电磁场探测器) ^?Y x{r~9 ?z/ )Hkw •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 W&'[Xj \|wUxijJ*,
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