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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 |dIP &9 DfYOGs]@
iV9wqUkMv 3m3ljy 建模任务 Ku;|Dz/=o .EeXq}a[ ZK:dhwer 概述 iMG)zPj _)|_KQQu •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 fP3e{dVf •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 .OhpItn +;z^qn
eu=G[> ]0N'Wtbn 光线追迹仿真 -& Qm"-?: 7$3R}=Z`\q •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 wq yw#)S •单击go!
[/dGOl+ •获得了3D光线追迹结果。 <JtH/oN Pdgn9
VnlgX\$} E/bIq}R6 光线追迹仿真 &O|!w& 6 3TeTGp$ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 0$=Uhi
•单击go! #'`!*VI •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 2n]UNC 'I$-h<W
ed3d 6/%HR +_^Rxx!XA 场追迹仿真 )m8ve)l R Lnsy, •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 {
'A`ram •单击go! Z_b^K^4 /zt9;^e . <xzf4C V+\L@mz; 场追迹仿真(相机探测器) zk6al$3R s*'L^>iZ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 !LGnh •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 $'Pn(eZHGv TtZZjeg+V
Wp2W:JX: $ghAC 场追迹仿真(电磁场探测器) n oWjZ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 0[A4k: 9NUft8QB By3y.}'Ub9 P:~Xaz\F 场追迹仿真(电磁场探测器) 4)]w"z0Pc |X}H&wBWo •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 !T+jb\O_ woSO4e/
7CKpt.Sz6 iJ8 5okv'
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