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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ebI2gEu;a X2Z)>
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KH;~VR8"/ E3O^Tg?j 建模任务 )
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m Y /_CPY F!EiF&[\J 概述 c**&, aL q/U-6A[0 •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 \(P?=] - •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 B ??07j f;
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{:uv}4 Z kaekH*m~ 光线追迹仿真 |{YN3"qN Mz6(M,hkq •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 \6SjJ]o> •单击go! Yw3'9m^ •获得了3D光线追迹结果。 X>o9mW rvd$4l^
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%gd:-tA 光线追迹仿真 tn'Jkwp 0W*{ 1W •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 f<@!{y2Xe •单击go! Y\-xX:n.\ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 OY`B{jV- %DKFF4k
1}DA| !~ 11yXI[ 场追迹仿真 *pJGp:{6V? |g 3:+& •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 !g]5y= •单击go! dyWp'vCQs\ c,2& -T} NVv
<vu ZiJF.(JS 场追迹仿真(相机探测器) Kt_oo[ey{ ?8V.iHJk •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 eA4:]A" •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 sh$-}1 ; `3rwqcxA
w'H'o!*/ SO0\d0?u 场追迹仿真(电磁场探测器) luf5-XT •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 /]TNEU,K ]u_j6y!
l!|c_ !'jq.RawP 场追迹仿真(电磁场探测器) ]5Uuz?:e LW]fme<V? •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 '9V/w[mI %PYl
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