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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 lVgin54Q #=#bv`
0iVeM!bM c!] yT0v&s 建模任务 [9\Mf4lh# ~{q;
-& L\\'n ) 概述 S y^et wN:vI(C •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 PKYm{wO- •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 2D4c|R@+ "O8iO!:
`/9&o;qM
:+%Yul 光线追迹仿真 `$yi18F bRI `ZT0 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 3q.HZfN~ •单击go! #|F5Kh" •获得了3D光线追迹结果。 ?J6\?ct4 l|fb;Giq=D
dl+:u}9M$ =/(R_BFna 光线追迹仿真 4\m#:fj % G<`6S5J>hr •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Y
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2d •单击go! GW0e=Y=LR •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 K.42 VM)F O@-(fyG
OK%d1M^8j AhQsv.t 场追迹仿真 TCK<IZKLqK T5>'q;jM •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 =Iy khrS •单击go! ;:8SN&). ij02J`w:Ra !~te&ccPE {r_x\VC=p 场追迹仿真(相机探测器) ||'A9 _o{w<b& •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 %h&F •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 bjql<x5d #=czqZw
sH :_sOV* ~[:C l 场追迹仿真(电磁场探测器) N==Y]Z$G •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 $8fJ DN Qp~3DUM iV.j!H7o 7rIEpN>* 场追迹仿真(电磁场探测器) "$ep=h+ 5XinZ~ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 FTcXjWBPF9 <O4W!UVg
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