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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 AA.Ys89V q\_DJ)qpn
`:3&@.{T( MA"#rOcP 建模任务 qOgtGN}k kYtHX~@ \bRy(Z) 概述 X#7}c5^Y 3FY_A(+ •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Z fqQ{_ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 |Cq8% [yvt1:q
OaNc9c" 3B -NYJa 光线追迹仿真 -;<>tq'3` kU(kU2u%9 •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 26}u4W$ •单击go! :@;6 •获得了3D光线追迹结果。 AtT"RG-6 59~FpjJ
6~3jn+K$1 $>(9~Yh0 光线追迹仿真 h-,?a_ 'DeW<Sa~ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 u YabJqV •单击go! *{Yi}d@h( •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 +/(|?7i@ {9Xm<}%u]]
MyqiBGTb iA&oLu[y3 场追迹仿真 !^]q0x qKA_A% •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 i<bxc •单击go! YV4
:8At1 ~@ ?"'!U Z$1.^H.Db 4 *H(sq 场追迹仿真(相机探测器) ,5=kDw2 R~!\-6%_ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 C)U #T) •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 V*>73I 48:liR
(;C$gnr.C gu^_iU 场追迹仿真(电磁场探测器) :|zp8| •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 m'3OGvd |1lf(\T_ xSx&79Ez<* "-28[a3q 场追迹仿真(电磁场探测器) *&h6*zP? L!?v BL
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ypgliq( kHGeCJe\{
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