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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 >:%BNeO "w9`cz9a~J
!W~QT} &f"T,4Oh 建模任务 CG.,/]_ UoHd - /22nLc;/Cx 概述 7LfcF !3@{U@*Z] •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 cW; H!:& •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 G0Hs,B@5? WtVf wC_
2[ksi51y oPsK:GC`U 光线追迹仿真 Q,~x# "b`7[ ;a •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 L:pUvcAc? •单击go! *,&S' ,S- •获得了3D光线追迹结果。 O5M2`6|As F 5U|9<
I>aGp|4
%A)538F 光线追迹仿真 IT18v[-G l#$TYJi •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 >azEed<B •单击go! t!:)L+$3 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 AuXs B (0R2T"/
?!y"OrHg )b0];&hw] 场追迹仿真 BPewc9RxV `7\H41%\pp •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Z9VR]cf? •单击go! 1x{kl01m% :BD>yOlG 1O0X-C,wo$ #A )Ab%r8" 场追迹仿真(相机探测器) QZ~0o7 N571s •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 j8a[
( •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 W-m"@<Z /NU103F yt
+>}o;`hPe B`1kG Ex . 场追迹仿真(电磁场探测器) j^ nu| •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 ~b6GrY"vB %Kl(>{N i?-Y 0>FE% 场追迹仿真(电磁场探测器) 'Wp@b678 ;MPKJS68@ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 kP^*hO!% \=fh-c(J,
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