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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此，在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析，可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场，也可以深入研究矢量效应。 Fq! 12/Nn
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3UU]w`At 建模任务 '(mJ*Eb 8Y *SZTzV  a% |[m,FvP 概述 [HI&>dm=$ j / 4N •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 a\S"d •接下来，我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 n F~</> gP"p7\
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 /%EKq+ZP 7Fw`s@/% 光线追迹仿真 * t6 XU 5 WSu •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 8J{I6nPF •单击go！ *Dtwr •获得了3D光线追迹结果。 +(0 Fab8g ] as_7
 !4GG q Ja>UcE29 光线追迹仿真 CB<1 ] Z &sR=N60n •然后，选择“光线追迹”作为模拟引擎。 0@d )DLM? •单击go！ h>-JXuN •结果得到点图（二维光线追迹结果）。 &, 4]XT A`Q'I$ fj
 #gq4% ; Q}FD u, 场追迹仿真 Zq=t&$* OLJb 8kO •切换到场追迹，然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 u3vBMe0v[ •单击go！ Z)EmX= "'h?O*V]u{  4J0{$Xuu 0
J;h4)w~9H3 场追迹仿真（相机探测器） z"* X/T XIh2Y\33ys •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ez=$ ]cln •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度：由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大，因此可见明显的不对称性。 })!d4EcZf +]uW|owxo
 1RM;"b/ Mnyg:y*= 场追迹仿真（电磁场探测器） H1_XEcaM+* •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 JIvVbI Kdh(vNB>  p8K4^H
@ ' L/] 场追迹仿真（电磁场探测器） ?( Q" y\
TU$PAwn= •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 U^vQr%ha ;ZX P*M9
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