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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 6Db1mvSe |&`NB|
\-a^8{.^E "*CQ<@+ 建模任务 N%v}$58Z Q#Q]xJH =o^oMn 概述 |&eZ[Sy(=l jku_0Q0*? •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 57k@]3
4 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
;)s$Et% ,+-l1GpL
#n2'N^t /k qW 光线追迹仿真 3 GmU$w 6S)$wj*w •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ~B;kFdcVXn •单击go! JV(qTb W •获得了3D光线追迹结果。 +dq&9N/ q4'szDYO2
3`uv/O2~i 3/>T/To&2 光线追迹仿真 6Qnerd%Ec CG*eo!Nw •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 kW0|\ •单击go! 92!1I$zi •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 $"1Unu&P /yPFts_q
@8E mY,{; h}r* 场追迹仿真 0h/gqlTK1 `T7gfb%1-3 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 R_ymTB}<t( •单击go! A:PQIcR;V ^ZV1Ev8T6 MkgeECMf ,e$]jC<sv2 场追迹仿真(相机探测器) &6<>hqR^ t0h@i` •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 qp3J/(F •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 RnC96"";R. z(b0U6)qQ
AdB B#zd 8oiO:lyLSt 场追迹仿真(电磁场探测器) >]K:lJ]l •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 {:BAh5e| XgL-t~_ ]D_"tQ?i UJ0fYTeuI 场追迹仿真(电磁场探测器) ]S;^QZ OXcQMVa
6 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :EJ8^'0Q 29 {Ep
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