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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 *'w?j)}A9g [[$dPa9
%lq[,6?>5 CS'LW;#[ 建模任务 f+!k:}K wKU9I[] =U7P\sw2 概述 <@Z`<T6 tm&,u*6$W? •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ee/3=/H|; •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 "%}24t% o_8Wnx^
6l'J!4*qY ''dS{nQs 光线追迹仿真 f$76p!pDa |'Z+`HI •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 9(3]t}J5
d •单击go! QLH!> 9Ch •获得了3D光线追迹结果。 >?O?U=:< vHZq
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{]bmecz I
cASzSjYX 光线追迹仿真 $l2`@ia" &gJ1*"$9 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 r+8)<Xt+p •单击go! egK~w8`W% •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 3 [j,d]\| ~!S/{Un
DKJ_g.]X T+^Sa
J 场追迹仿真 hraR:l
D 0SU v 5c •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 kebk f,`p •单击go! &?@[bD'T @0]w!q !E&l=*lM. \=D+7'3 场追迹仿真(相机探测器) -RJ~Sky[ Qo:vAv •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 O1UArD •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 wo+`WnDh [(2^oTSRaq
X~UL$S; Ell14Iki 场追迹仿真(电磁场探测器) RP$h;0EQG •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 (kVY\!UAt J6[}o4Z "b402"& 7m
ou 场追迹仿真(电磁场探测器) ?
V1ik[ `v@Z|rv, •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 D_?Tj 'j*Q
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