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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2022-06-28
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 FOPfo b[  
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    5)5$h]Nz>  
    建模任务 BiY-u/bH9a  
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    n!aA<  
    概述 R$XHjb)  
    }VU^ 8D  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 7xF)\um  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 "D\>oFu  
    jgvzp  
    r` B(ucE  
    nxWm  
    光线追迹仿真 uTShz3  
    M)F_$ ICE-  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ,.kJF4s&  
    •单击go! OV G|WC  
    •获得了3D光线追迹结果。 mjQZ"h0  
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    z*a-=w0  
    vp32}ze D  
    光线追迹仿真 ')Q  
    c;?J  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 A"e4w?  
    •单击go! h;+{0a  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 p4F%FS:`  
    z''ejq  
    $7QGi|W*k  
    oE.Ckz~*d  
    场追迹仿真 &6^ --cc  
    $`A{-0=x\U  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 qzj.N$9]  
    •单击go! "MvSF1  
    vbD""  
    sYq:2Wn>8Q  
    hgj ]Jr  
    场追迹仿真(相机探测器) D6dliU?k  
    M }! qH.W  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 zv7)JH7EV&  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 \#h{bnx  
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    =F2`X#x_j  
    /F$E)qN7n  
    场追迹仿真(电磁场探测器) eZ oAy[  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 86pA+c+U  
    ?n]adS{  
    d5>EvK U  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) }[{9u#@#  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 q@G}Hjn  
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