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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 rcV-_+KE(B 0Vkl`DmeM.
6i.gyD bB!#:j>(v 建模任务 ?38lHn`FyQ c.AYxI" T .REq4< 概述 J'b<z.OW -(i(02PX •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 `ltN,?/ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 `lO(s%HC *wuqa)q2
F>zl9Vi< O~!T3APGU 光线追迹仿真 #`(WUn0H? 'fx UV<K& •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 !d,8kG •单击go! O:'?n8rWL •获得了3D光线追迹结果。
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'$G"[ljr FS6<V0pil 光线追迹仿真 qH>`}/,P 5!I4l1 •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 eSEq{?> •单击go! W#'c5:m
4 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 MZV_5i@: X
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Bj Wr5SJ ?m7:if+y 场追迹仿真 p8}(kHUp( slu(SmQ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 vAb^]d •单击go! 7j$Pt8$ P`$!@T0= &Lm-()wb |TsE-t*E} 场追迹仿真(相机探测器) 2f>PO +4S{ 2 PqS%`XiS •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 G(iJi •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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o:S0* @L/o\pvc 场追迹仿真(电磁场探测器) 7ZxaPkIu&% •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 NTo!'p:s "9!d]2.-Vk 1x)ZB~L K+*Q@R D 场追迹仿真(电磁场探测器) O`G/=/GZ q:\g^_!OGA •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 j.e0;!
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