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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 d+0^u(gc!8 "oe!M'aj`1
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o10U \ADLMj`F| 建模任务 T{tn.sT e?P%wqB ~;8I5Sge 概述 J0sGvj{ Wxn#Rk#> •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 Q ?^4 \_ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ]+ZM/'X >Mw'eQ0(y
_4v"")Xe O@wK[(w^ 光线追迹仿真 Y&5.9 s@' jM @?<1
•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 Im+7<3Z •单击go! Zw#<E
=\ •获得了3D光线追迹结果。 m8+:=0|$ ceG&,a$\
Z9VR]cf? 1x{kl01m% 光线追迹仿真 :BD>yOlG q/x/N5HU •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 bb1f/C% •单击go! @Z q[e
•结果得到点图(二维光线追迹结果)。 0m
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$w/E9EJ)3A ]-bQNYKX 场追迹仿真 |IN[uQ P0 b4Hq3 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 1qZG`Vz •单击go! %Kl(>{N e2wvc/gG6 0>FE% ;A"\?i Q 场追迹仿真(相机探测器) ]]PE#DDg $DE&J4K •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 " #v%36U •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 l'uOORI 3AeH7g4<
x<>YUw8` N}mh} 场追迹仿真(电磁场探测器) esI'"hVJ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 f3#X0.': v2>Z^ M*`hDdS c\K<sM{ 场追迹仿真(电磁场探测器) X~L!e}Rz ) EXJ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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