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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 mucY+k1>g h%E25in
h}g _;k5R ]Q6,,/nn 建模任务 R D=!No? E IsA2 f vJtQ&,zG 概述 %Kw5b ; &.K8cphj •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 P`-(08t •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 TJ?}5h5 -x:Wp*,
F2z^7n.S z]gxkol\ 光线追迹仿真 <*8nv.PX* !D7\$
g6g •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 b?B"u^b! •单击go! sOzjViv •获得了3D光线追迹结果。 'gI58#v NO`LSF
44kY[jhf o!sxfJKl 光线追迹仿真 ENA8o}n &|n*&@fF •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 E36<Wog •单击go! !xj >~7 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 ?mG
?N(t/h nITr5$f
,(OA5%A9zK $`{}4,5M 场追迹仿真 B?#@<2*=L )K8JDP •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 djZOx;/ •单击go! ;#~rd8Z52 je_77G(F :3Ty%W&& B 8C3LP}? 场追迹仿真(相机探测器) _$MoMg{uJH JeWW~y`e?{ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 ZZ[5Z=te? •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 8eWb{nuJ> "N7C7`izc
;,Lq*x2s YHvmo@ 场追迹仿真(电磁场探测器) p1J%= •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 < g6
[mS B<8Z?:3YS &&_W,id` ${6 ;]ye 场追迹仿真(电磁场探测器) .'__ [|-{; >jN)9}3>-# •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 sx`C<c~u _F,@mQ$!
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