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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ,,b_x@y* 1rT}mm/e;
^vJ08gu_W r'k-*I 建模任务 1% EIP-z 's!EAqCN pOGVD 概述 NCl$vc;, ]%F3 xzOk •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 44($a9oa2 •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 V=\&eS4^" w%j 6zsTz
,7k)cNstW X -6Se 光线追迹仿真 h}rrsVj3 X62z>mM •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 y!
7;Z~" •单击go! Z'PL?;&+R •获得了3D光线追迹结果。 ` _[\j] ~Og'IRf
+2MsyA?6_ {#0B~Zr 光线追迹仿真 sw8Ic\vT l*xA5ObV •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 JKGUg3\~ •单击go! *cq#>rN •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 sm4@ywd> Ui'~d(F
<`~]P$ c;BQ$je} 场追迹仿真 :G,GHU'/78 E+UOuf*( •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 el5F>) •单击go! ,|?B5n& !\RR UH* `p*7MZ9- ?r2Im5N 场追迹仿真(相机探测器) }0}J ,TeDJ\k •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 >c8zMd •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ^7~=+0cF] OCY7Bls4
l?Bv9k.^? ir3iW*5k 场追迹仿真(电磁场探测器) C[_{ $j(J •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 VOp8 ,! Kx ?}%@b f+1)Ju~ wC..LdSR 场追迹仿真(电磁场探测器) ,K8PumM_ VCkhK9(N •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 (gs"2 z2wR]G5!
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