-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-09-09
- 在线时间1983小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 9<"l!noy DC=XPn/V
*YWk. <2fvEW/#v 建模任务 8LlWXeD9 Oy yE0 S[RVk=A1 概述 86~q pN 't3nh •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 p;LF-R •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 "XKd#ncP KOD%>+vG$
Ryi%}! d0-T\\U 光线追迹仿真 +qmV|$rmM Ai5D[ykX •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 JPkI+0 •单击go! incUa; •获得了3D光线追迹结果。 CDWchY jNP%BNd1f
DZV U!J LZApz} 光线追迹仿真 $~:|Vj5iZ\ <O]B'Wc [ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Dqm;twd> •单击go! X&.LX •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 41\V;yib N"2P]Zr
]s~%1bd
m/NXifi8l 场追迹仿真 Eo_;Nc mjbV^^> •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 k_7agW •单击go! &(rR)cG sQ%gf }G1hB#j iPt{v5}] 场追迹仿真(相机探测器) S$i3/t };]f 3 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 &BQ%df<y\ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 +zSdP2s @8V~&yqq
p`3$NCJN XnV$}T:?X 场追迹仿真(电磁场探测器) #[NNb?`F •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 :faB7wduW; s@5r}6?M x|<89o
L - x]gp5 场追迹仿真(电磁场探测器) +xRSd * IT\
x0b cv •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 !<j)D_ k^r-~q+NV#
5tl uS Fx' E"d
|