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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 T=W;k<P\k K'@lXA:
l'Kx#y$ +qiI;C_P\ 建模任务 Rk$ \r5L7y$9 h *U}cj A:ZN 概述 &W*do {k15!(:i~a •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 E=&":I6O •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 .[Nr2w:> $p)e.ZMgE
Sdr,q9+__ j0.E!8Ae{ 光线追迹仿真 yBYZ? gc $ vt6~nfI •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 %Mxc"% w •单击go! F`eo3z •获得了3D光线追迹结果。 Evy_I+l )/FEjo
;/R \!E
/V"6Q'D 光线追迹仿真 (/^dyG|X' LUfo@R •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 {+CBThC •单击go! %h9'kJzNk •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 9:4m@dguh- ai$s
? \p,s-CR: 9 .3?$( 场追迹仿真 /$=<RUE mrGfu:r •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ^$x1~}D •单击go! |Ca
%dg9$@ R\Of , CYn56eRK }c@duf-l 场追迹仿真(相机探测器) 0wpGIT!2 ]x1o (~ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 :7L[v9' •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 E/{v6S{)Y uMb[0-5
Qk?J4 B pdq5EUdS 场追迹仿真(电磁场探测器) ^tRy6zG •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 I2^@>/p8\( VxqoE]Dh xWxgv;Ah u_'XUJ32! 场追迹仿真(电磁场探测器) ^EZ?wdL ,UATT]> •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Dwbt^{N^
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