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    [技术]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-06-28
    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 T=W;k<P\k  
    K'@lXA:  
    l'Kx#y$  
    +qiI;C_P\  
    建模任务 Rk$  
    \r5L7y$9 h  
    *U}cj A:ZN  
    概述 &W*do  
    {k15!(:i~a  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 E=&":I6O  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 .[Nr2w:>  
    $p)e.ZMgE  
    Sdr,q9+__  
    j0.E!8Ae{  
    光线追迹仿真 yBYZ?gc  
    $ vt6~nfI  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 %Mxc"% w  
    •单击go! F`e o3z  
    •获得了3D光线追迹结果。 Evy_I+l  
    )/FEjo  
    ;/R\!E   
    /V"6Q'D  
    光线追迹仿真 (/^dyG|X'  
    LUfo@R  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 {+CBThC  
    •单击go! %h9'kJzNk  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 9:4m@dguh-  
    ai$s  
    ? \p,s-CR:  
    9 .3?$(  
    场追迹仿真 /$=<RUE  
    mrGfu:r  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 ^$x1~}D  
    •单击go! |Ca %dg9$@  
    R\Of ,  
    CYn56eRK  
    }c@duf-l  
    场追迹仿真(相机探测器) 0wpGIT!2  
    ]x1o (~  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 :7L[v9'  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 E/ {v6S{)Y  
    uMb[0-5  
    Qk?J4 B  
    pdq5EUdS  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ^tRy6zG  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 I2^@>/p8\(  
    VxqoE]Dh  
    xWxgv;Ah  
    u_'XUJ32!  
    场追迹仿真(电磁场探测器) ^EZ?wdL  
    ,UATT]>  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Dwbt^{N ^  
    PE&$2(  
    G"|c_qX  
    c-`izn]  
     
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