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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 xy>mM"DOH %)V3QnBO
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c _Z&R'`kg 建模任务 U"Oq85vY cKAl 0_[f"
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: 概述 H\vO0 <X XwMC/]lK< •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 eyV904<F •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 ^;bkU|(`6 24fWj?A| ^
+a;j>hh ,;y^|X 光线追迹仿真 [XK"$C]jHJ 5Tq 3L[T5; •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 $4pW#4/4 •单击go! HDOa N •获得了3D光线追迹结果。 u:$x,Q mHy]$Z
$'Z!Y;Ue &-A7%" 光线追迹仿真 ~5b %~: nFSa~M •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Hn)=:lI •单击go! ~MX@-Ff •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 Xs/hqIXB EC0auB7G
zO,sq%vQn' xAflcY>Ozs 场追迹仿真 XA68H!I I
uDk9<[b: •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 zD'gGxM1 •单击go! A
3l1$t#w _1~Sj* -~g3?!+Hb Yu=^`I 场追迹仿真(相机探测器) >J1o@0tk =zKp(_[D •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 I~I%z'"RQd •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 !8$}]uWP Y~6pJNR
6-~ 7~&Y"& 场追迹仿真(电磁场探测器) ?l/rg6mbI' •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 6yU~^))bx =[,adB
;S7xJ'H Y'P8 `$ 场追迹仿真(电磁场探测器) t65!2G"< x9=lN^/4 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 b#M<b.R) h$!qb'|
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