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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性，仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此，它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中，氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 G t 4| ] 68ce+|
 }gL:"C"~ ^lVZW8 建模任务 1e`/N+6u Q!DH8'|4?L s%h|>l[lKT 仿真干涉条纹
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−基本光源模型[教程视频] no Y~fq/U
•使用导入的数据自定义表面轮廓 KL:x!GsV5e
•定义元件的位置和方向 y]|Hrx
− LPD II：位置和方向[教程视频] e~tgd8a2a
•正确设置通道以进行非序列追迹 a12 Q/K
−非序列追迹的通道设置[用例] ^):m^w.
•使用参数运行检查影响/变化 ` .3!
−参数运行文档的使用[用例] qEvHrsw},
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