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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 HA%r:Px {uMqd-Uu
yzmwNsu Oe%jV,S |V 建模任务 ) "Toh=x] QG=&{-I~[3 HxH=~B1"P 仿真干涉条纹 W&(98}oT Ayi
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