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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 }-T
: 8&c:73=?X -v{LT=,O 't'2z 建模任务 \fJ _, E3QyiW qTI_'q 仿真干涉条纹
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